PN结特性的研究.docVIP

实验报告（正式） 86 实验者：张钟秀　P 实验日期：2008.10.20 实验题目：PN结特性的研究 注：实验目的，实验原理见预习报告，预习报告与原始数据以纸质材料提交。 实验条件：时间 14：00~17:00 天气 多云 20℃ 实验仪器： 基准电源 QS-J型PN结特性测试仪 实验内容： 1、仪器调整，预热20min，测量硅管，IF=50μA，ΔV=0V，记录t℃和VF。 2、升温测量（t120℃）。 3、降温测量（切断加温电流）。 4、升温、降温数据分别处理（origin），计算该PN结温度系数和禁带宽度，结果与公称值比较并求相对误差。 实验数据及处理： 实验起始温度 TS（升温）=26.5℃ TS（降温）=26.7℃ 工作电流 IF=50μA 起始温度时为TS时的正向压降VF（TS）=602mV 表：升温、降温温度T与ΔV关系 控温电流/A ΔV =VF(T)-VF(TS)/mV T(升温)/ ℃ T=(273.2+T)K T(降温)/ ℃ T=(273.2+T)K 0.1 -10 31.0 304.2 31.0 304.2 0.2 -20 35.7 308.9 35.7 308.9 0.2 -30 40.4 313.6 40.8 314 0.3 -40 45.2 318.4 44.9 318.1 0.3 -50 50.0 323.2 50.1 323.3 0.3 -60 54.8 328 54.3 327.5 0.4 -70 59.5 332.7 59.1 332.3 0.4 -80 64.2 337.4 63.9 337.1 0.4 -90 69.1 342.3 68.7 341.9 0.4 -100 73.7 346.9 73.4 346.6 0.4 -110 78.3 351.5 78.1 351.3 0.5 -120 83.1 356.3 82.9 356.1 0.5 -130 87.9 361.1 87.6 360.8 0.5 -140 92.6 365.8 92.3 365.5 0.5 -150 97.5 370.7 97.1 370.3 0.5 -160 102.2 375.4 101.8 375 0.5 -170 106.9 380.1 106.6 379.8 0.5 -180 111.6 384.8 111.4 384.6 分别以T（升温） T（降温）为x轴，ΔV为y轴，用origin进行线性拟合 升温时： S=－2.108mV/℃ Vg(0)=VF(TS)－S·TS=602+2.108×(26.5+273.2)=1233mV Eg(0)=qVg(0)=1e×1233mV=1.23eV 相对误差为| Eg(0)－Eg(0)公认|/ Eg(0)公认=|1.23－1.21|/1.21=1.65％ 降温时： S=－2.117mV/℃ Vg(0)=VF(TS)－S·TS=602+2.117×(26.7+273.2)=1237mV Eg(0)=qVg(0)=1e×1237mV=1.24eV 相对误差为| Eg(0)－Eg(0)公认|/ Eg(0)公认=|1.24－1.21|/1.21=2.48％ 思考题： 1、测VS（0）或VF（TS）的目的何在？为什么实验要求测?V—T曲线而不是VF—T曲线。 答：测VF（TS）是为了较准确地计算Vg(0)，因为虽然按照公式使用任意温度T处数据都可求得Vg(0)，但由于半导体元件状态并不稳定，且由于仪器精度问题，一个V对应了多个T，使得误差较大，而试验一开始便记录VF（TS）可减小这种问题导致的误差。 测?V—T曲线而不是VF—T曲线是因为试验中使用基准电源补偿了正向压降 VF（TR），直接测VF时，由于电源的内阻等原因是VF产生误差，而测?V则不存在这个问题。 2、测?V—T曲线为何按?V的变化读取T，而不是按自变量T读取?V。 答：因为测T的仪器灵敏度较高，测?V的仪器灵敏度较低，一个?V直对应了多个T值，按?V读取T时可以读取每个?V对应的第一个T值，这样可以减小线性拟合直线的斜率的误差。