用X射线荧光分析技术测定镀包金层的厚度.pdfVIP

　第 32 卷第 1 期 原 子 能 科 学 技 术 . 32, . 1 V o l N o 　1998 年 1 月 A tom ic Energy Science and T echno logy Jan. 1998 用 X 射线荧光分析技术 测定镀、包金层的厚度 邓艳丽　李卫华　刘宝生　刘际时 ( 中国原子能科学研究院核技术应用研究所, 北京, 102413) 把 射线荧光分析和低能 射线散射技术相结合, 准确地测量了镀、包金制品的镀、包金层厚 X 度。可测定的最大镀、包层厚度为 70 m , 测量准确度好于 10% 。 关键词　 射线荧光分析　低能 散射　镀、包层厚度 X 中图法分类号　 434 12 O 把 射线荧光分析技术和低能 射线散射技术结合, 进行金制品和镀、包层厚度达 70 X m [ 1 ] 的镀、包金膺品的甄别 。为确定被测样品的实际价值, 应准确地测定镀、包金膺品的镀、包层 ( ) ( ) 厚度。本工作只限于解决单元素材料 纯铜或纯银 衬底和单元素镀、包层 纯金 的镀、包层厚 度测定。同时, 对非单元素材料底衬和成色金镀、包层情况下测定镀、包层厚度的可行性进行初 步探讨。 1　原理 关于受激X 射线荧光分析的基本公式和镀、包层样品X 射线荧光分析的基本公式已在关 [ 1 ] 241 于金制品和镀、包金膺品甄别的工作中列举 。使用 Am 源作激发源测定镀、包层厚度 d 时, 需把X 射线荧光分析和 595 keV 低能 散射结合考虑, 得到 3 个对应的参数, 即归一化的金 含量份额 0 、金谱线强度与“剩余”康普顿散射谱线强度的比值 1、金谱线强度与“剩余”瑞利 IA u R 散射谱线强度的比值 2[ 1 ]。下面将分2 种情况来讨论。 R 11　薄镀、包层 薄镀、包层是指镀、包层的厚度不能完全阻挡底衬材料产生的特征X 辐射穿透镀、包层射 至样品外并被探测器所探测。底衬材料特征X 辐射穿透镀、包层的份额显然取决于镀、包层的 厚度 , 这一份额同时又决定了归一化金含量份额值 0 , 从而可建立起 0 的对应关系曲 d IA u IA u d ( k d ) 的形式。因此可由 0 线, 这一曲线呈近似 1- A u 的值来确定 值。也可以用金谱线强度和底 e I d 衬材料谱线的强度比值来确定 d 值。这是用X 射线荧光分析技术测定镀层厚度另一方法。必 须注意的是应首先判定样品是镀包金膺品, 然后才能用 0 曲线来确定镀、包层厚度。因为