毕业论文（设计）-全息二次成像法测量微小位移.doc

学科分类号（二级） 140.3055 本科学生毕业论文（设计） 　 题　　目　全息二次成像法测量微小位移 　　 姓　　名　　　　　　 　　 学　　号　　　　　　　　　 院、　系　 物理与电子信息学院　　　　　 专　　业　　　　　物理学　　　　　 　 指导教师　　　　　　　　　　 　 职 称　　　　高级实验师　　　　　　 2012年5月20日 云南师范大学教务处制 全息二次成像法测量微小位移 摘要：本文应用全息二次成像法的原理，测量了微米量级的位移。在同一参考光照射下，发生微小位移前后的硬币在同一张干板上先后二次曝光，经显影、定影处理产生干涉条纹光栅，再用同一参考光在该干涉条纹光栅上衍射再现出前后两次物像的干涉图。测量出干涉条纹序数与光路的几何参数，进而计算得到微小位移的数值。 关键词:全息技术；二次成像法；级数；干涉条纹；微小位移 1.引言 全息技术自发明至今已有40年有余，经历了以下四个发展阶段：第一阶段是利用汞灯记录的同轴全息图；第二阶段是用激光记录和再现离轴的全息图；第三阶段是激光记录白光再现的全息图；第四阶段是激光记录数字再现。现已成为信息光学最活跃的领域之一。[1] 作为一项的集成像及测量为一体的新兴技术，它与普通的照相相比，具有很大的优势。第一，普通照相是根据几何光学成像原理，仅记录了发光物体的光强信息，展示的只是平面图像，其不包括物体的相位信息。第二，与普通照相技术不同的是全息技术所成的像是一幅三维的像，它不仅包含物体的振幅信息，还包含了物体的相位信息，且在特定的条件下，即使原物体被移走，我们仍然可以看到物体的全部信息。第三，其优势还在于全息像具有弥漫性，当我们的全息像被打碎时(碎片不是很小)，我们仍可以捡其中的一块在参考光下看到物体的像。第四，全息图还具有可多重记录的特点，即，我们记录和再现全息图时，记录时的物光及参考光、再现光必须一一对应。如果再现光与原参考光差别太大，会导致我们看不到与原物体相同的像。当入射角发生变化时全息像的清晰度也将发生变化，比如说清晰度会降低；入射角稍稍变大时，全息图会变得不清晰，甚至看不见，由此可以在同一张全息干板上记录同一物体的多个全息图。除此之外，全息图还可同时得到实像和虚像，实像可以用光屏来接收，而虚像则不能，这与基础光学中关于实像和虚像的描述并不相悖。这是全息照相与普通照相技术的重大差别之一，这也正是全息照相的优势所在。正如美国商务通信公司所预测：“全息照相术正以活跃、最新和增长最快的高级技术工业之一的姿态呈现于世界。”[2]本文充分发挥了全息图多重记录的优势，用简单易行的方法测量了小至微米量级的位移。结果显示该方法切实可行。 2.1全息技术的原理 全息技术是利用光的干涉和衍射原理，将物体发射的特定的反映物体信息的物光以特定的干涉条纹形式记录下来，并在一定的条件下使其再现，形成原物体逼真的三维像。由于记录了物体各点发出的光的全部信息(振幅和相位)，而被记录下来的干涉条纹叫做全息图。因此这种照相技术被称为全息技术。[1] 2.1.1物体光波前的记录 物光波波前信息包含光波的振幅和相位信息，然而现有的记录介只响应光强，要记录物光的相位信息。[3]干涉法无疑是最好的选择之一，所谓干涉法就是将空间相位转换为空间强度的一种方法。以下说明以下常见的记录全息图的光路图[4]。 如图1[1]所示，由激光器发出的相干的光经过分束镜BS时分成两束，其中一束光经过反射镜M1反射、扩束镜C1扩束后，照射到物体上产生的散射光称作物光；另一束光经反射镜M2反射、扩束镜C2扩束后，直接照射全息干板上被称作参考光。当参考光与物光均照射到全息干板上时，即可得到物体的全息底片。 图1 常见的拍摄光路图 Fig.1 Light path for usual hologram shooting 2.2.2波前再现 上述全息底片经过显影、定影处理后，当我们遮挡住物光，用原参考光照明底片时，我们逆着原物光的方向看去即可看到物体清晰、逼真的三维立体图像。 3.微小位移的全息计量法 用全息法测量物体的微小位移在实用中具体的方法很多，在实验室中最为常见的方法要数时间平均法和二次成像法(二次曝光法)，这里仅介绍用二次成像法来测量物体的微小位移。[5] 3.1二次成像法测量物体的微小位移 二次成像法就是利用全息图的可多重记录的特点，用同一参考光，在同一张全息干板上对被测物体位移前后进行两次曝光，这样同一张干板上就能记录物体位移前后的全部信息。[6]当干板经显影、定影处理，在原参考光下还原时，由于位移前后的两物光光波有一定的相位差异，故在相汇处会形成干涉条纹，我们利用这些干涉条纹就可计算出物体的位移量。[7] 3.2二次成像法测量物体的微小位移的原理图 图2 二次曝光法