金相制做的技巧和方法.pdfVIP

金相样品制备和分析中的技巧及方法 , , 魏建忠 王国红 宗 斌 ( , 100022) 北京工业大学材料学院 北京 : , ; 摘 要 介绍了一般金相样品制备过程中样品高度对制样过程的影响 以及特殊的镶嵌技巧 同时涉及了镧镍储氢材料样品 , 制备的方法、技巧及效果 以及微差干涉技术在无铅钎料研究中的实际应用。 : ; ; ; (DIC) 关键词 样品高度 镶嵌 储氢材料 微差干涉技术 ; , , 金相样品的制备在相当程度上是一个经验、技巧的过程 同时 由于新材料、新技术的应用对于金相检验方法也提出了 , 进一步的要求。笔者在实际工作中对一些制样的细节 以及在新材料、新技术的检验和应用上获得了一些经验和体会。 1 样品高度的控制 试样的几何尺寸实际上制约着样品在手工机械磨光和抛光过程中的平衡控制。如果在进行磨光前的取样和镶嵌阶段 , 多留意一下样品最终磨制时的高度以及高度与磨面最小径向尺寸的关系 会有效地提高工作的效率和效果。 , 150 400mm2 (150mm2 , ) 受预磨机磨光盘直径的限制 金相样品的磨面通常介于 ～ 之间 的试样先镶嵌 再磨制 。一般 , , , , , , 情况下 磨面越大 试样高度越低 稳度越大 越有利于对试样的平稳控制。因此 对于不需要镶嵌的样品 在截取样品时注意 , , 10 磨面的最小径向尺寸与样品截取后高度之间的比例关系 尽可能的情况下降低高度。为方便握持 通常取试样高度在 ～ 20mm 范围内。 , 22mm 25mm , 12 15mm; 30mm 40mm , 需要镶嵌的试样 最终的试样直径规格为 和 的 其高度应控制在 ～ 直径为 和 的 样品高度应控制在 15～20mm,一般情况下应当偏低限。这就需要操作者在取样时注意原始样品的高度。 ,