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SPC 统计过程控制 过程性能指数 在QS-9000中提出Pp、Ppk的新概念,称之为过程性能指数(Process Performance Index),又称为长期过程能力指数。有关过程能力指数更为完整的表述应为: Cp---无偏移短期过程能力指数 Cpk---有偏移短期过程能力指数 CpU---无偏移上单侧短期过程能力指数 CpL---无偏移下单侧短期过程能力指数 过程性能指数 以上4个指数称为C系列过程能力指数 Pp---无偏移短期过程性能指数 Ppk---有偏移短期过程性能指数 PpU---无偏移上单侧短期过程性能指数 PpL---无偏移下单侧短期过程性能指数 以上4个指数称为P系列过程性能指数 过程性能指数 Ppk=min(PU,PL) 选择PU、 PL二者之中最小的一个 PpK=(1-K)Pp 选择过程性能指数的计算就相当于选择PU或PL 注意:C系列过程能力指数与P系列过程性能指数的公式类似,二者的主要差别在于:前者的公式中的σ的估计采用σST=R/d2或s/c4,且必须在稳态下计算;而后者公式中的σ的估计采用σLT=s,是在实际情况(不一定是稳态)下计算的。 QS-9000提出Pp、Ppk的好处是:可以反映出系统当前的实际状态,而不要求在稳态的条件下计算。 1、Pp和Ppk的比较与说明和Cp和Cpk的比较与说明类似。只不过C系列的过程能力指数是指过程的短期过程能力指数,而P系列的过程性能指数则是指过程的长期过程能力指数。Pp和Ppk 也要联合使用。 2、对于同一个过程而言,通过长期标准差的估计值σLT大于短期标准差的估计值σST。因此,过程的质量改进就是逐步减少σLT,使之不断向σST逼近。 过程能力指数CP:不考虑平均值的位置 过程性能指数Ppk:过程有特殊原因和普通原因 重要产品特性的过程 能力要求(PPAP要求): 99.9999998%           2.00 99.99997% 99.99994%         1.67 99.99683% 99.99683% 99.994%       1.33 99.86501% 99.86501% 99.865% 99.730%     1.00 97.72499% 97.72499% 97.725% 97.722% 95.450%   0.67 84.13447% 84.13447% 84.134% 84.134% 84.000% 68.269% 0.33 Cpk 2.00 1.67 1.33 1.00 0.67 0.33 Cp 联合应用Cp与Cpk所代表的合格品率 过程改进策略 分析用控制图 过程是否处于统计控制状态 CP 1 是 改进过程 CP 1.33 控制用控制图 是 是 否 去除异因 否 改进过程 停产 全检 改变规范 否 评价过程能力 PpK:有偏移过程性能指数 PpL:无偏移下单侧过程性能指数 PpU:无偏移上单侧过程性能指数 Pp:无偏移过程性能指数 CpK:有偏移短期能力指数 CpL:无偏移下单侧短期过程能力指数 CpU:无偏移上单侧短期过程能力指数 Cp:无偏移短期过程能力指数 关于Pp与Ppk的比较与说明如下: 第五节 常规控制图的计算 常规控制图控制线的计算公式: 图 : 上控制界限线: 下控制界限线: 中心线: 均 值 控 制 图 极 差 控 制 图 上控制界限线: 下控制界限线: 中心线: 3.087 2.970 2.847 2.704 2.534 2.326 2.059 1.693 1.128 d2 0.223 0.184 0.136 0.076 __ __ __ __ __ D3 0.36 0.41 0.43 0.509 0.549 0.691 0.796 1.187 1.880 m3A2 0.975 1.010 1.054 1.109 1.134 1.290 1.457 1.772 2.660 E2 1.777 1.816 1.864 1.924 2.004 2.115 2.282 2.575 3.267 D4 0.308 0.337 0.373 0.419 0.483 0.577 0.729 1.023 1.880 A2 10 9 8 7 6 5 4 3 2 n 系数 控制图系数选用表 控制图控制线的计算公式 上控制界限线: 下控制界限线: 中心线: 均 值 控 制 图 标准 差 控 制 图 上控制界限线: 下控制界限线: 中心线: P 控制图控制线的计算公式 上控制界限线: 下控制界限线:

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