薄膜太阳电池组件PID影响的研究.pdfVIP

第第 14 届中国光伏大会（届中国光伏大会 （CPVC14 ）论文集）论文集 第第 届中国光伏大会届中国光伏大会 （（ ））论文集论文集 薄膜太阳电池组件薄膜太阳电池组件 PID 影响研究影响研究 薄膜太阳电池组件薄膜太阳电池组件 影响研究影响研究 何登虎，曹向武，韩 冲，张立伟 （湖南共创光伏科技有限公司） 摘摘 要：要：光伏组件的电位诱发衰减(Potential Induced Degradation，PID)现象普遍认为存 摘摘 要要：： 在于晶体硅光伏组件中。PID 现象会造成组件的光伏性能的持续衰减，引起的组件功率 衰减有时甚至超过 50%，严重影响到组件的功率输出，而从组件外观上却看不到任何缺 陷。PID 现象引起广泛的关注，但行业内薄膜组件的 PID 相关的研究较少，本文主要研 究 PID 对硅基薄膜太阳电池组件的影响。 关键词：关键词：PID 现象；薄膜太阳电池；衰减 关键词关键词：： 1 引言引言 势差诱发衰减)被许多电池片和组件厂商 引言引言 近年来，光伏组件的电位诱发衰减 作为卖点之一，越来越多的光伏组件的使 （Potential Induced Degradation ，PID ）现 用者也开始只接受 PID Free 的组件。 象引起的光伏系统发电量下降问题受人 之前关于PID 现象的研究绝大多数集 们到越来越多的关注。该现象最早是由 中在晶硅太阳电池，而鲜有关于薄膜太阳 [1] Sunpower 公司在 2005 年发现 ，PID 是 电池的报告。薄膜太阳电池，尤其是非晶 指组件长期在高电压作用下，使得玻璃、 /微晶硅薄膜太阳电池是否存在 PID 现象 封装材料之间存在漏电流，大量的电荷聚 还有待研究，本课题对硅基薄膜太阳电池 集在电池片表面，使电池片表面的钝化效 可能出现的 PID 现象进行验证，并对薄膜 果恶化，导致 FF 、Isc 、Voc 等参数降低。 组件进行 PID 恢复试验。 2010 年，NREL 和 Solon 研究发现，p 型 2 PID 产生原因产生原因 产生原因产生原因 晶硅电池片所制备的组件在负偏压下都 晶硅太阳电池组件中产生PID 现象的 有潜在的 PID 现象[2-4] 。经研究发现，PID 真正原因目前仍然不是很清楚，但是各个 现象一般是一种可逆的表面极化现象，当 研究机构和光伏电池组件厂的数据表明， 组件上施加负电压时，组件的功率可以基 产生 PID 的主要因素包括： 本恢复到之前功率值。 外部可能的原因：高温、潮湿和光伏 PID 现象严重时候可以引起一块组件 逆变器阵列的接地方式引起的严重腐蚀 功率衰减达到 50% 以上，从而影响整个电 和衰退； 站的功率输出，因此组件的 PID 现象越来 内部可能的原因：系统、组件和电池 越受到光伏行业的重视，PID Free(免于电 片 3 个方面引起的 PID 现象。 211 第第 14 届中国光伏大会（届中国光伏大会 （CPVC14 ）论文集）论文集