优化SOC测试时间的扫描链平衡及NSGA-Ⅱ设计.pdfVIP

理 论 与 方 法 ， 第己口l4年7月 ]]卷 第 7期 黼豳雕 优化 SOC测试时间的扫描链平衡及 NSGA—II设计 赵丽 丽 谈 恩 民 王海超 (桂林 电子科技大学电子工程与 自动化学院 桂林 541004) 摘 要 ：片上系统 SOC测试时间很大程度上取决于 Wrapper和测试访 问机制 TAM (testaccessmechanism)的设计 。为 了优 化 S0C测试时间，主要对 Wrapper和 TAM进行设计 ，降低单个核的测试应用时间靠优化 的Wrapper，在差值二次分配平衡 扫描链 的基础上 ，对 TAM进行划分，以测试时间和TAM 宽度为 目标进行优化 ，运用非支配排序 目标遗传算法 (NSGA—II)对 模型进行求解 ，并采用 ITC’02标准 电路 中的d695电路为实例进行验证 ，结果表 明该方法与基于 SA、ILP算法相 比，能够在 降 低 S0c测试时间上获得较为理想的效果，并且降低相应的测试功耗 ，证 明本实验方法切实可行 。 关键词 ：SOC；差值二次分配 ；测试时间；TAM；NSGA—II 中图分类号：TN206 文献标识码 ：A 国家标准学科分类代码 ：520．10 NSGA—-IIdesign and scanchainbalanceofoptimizingtheSOC testtime ZhaoLili TanEnmin W angHaichao (SchoolofElectronicEngineeringandAutomationofGuilinUniversityof ElectronicTechnology，Guilin541004，China) Abstract：Thetesttimeofthesystem onchip(SOC)isdependentonthedesignofthewrapperandtestaccessmechanism (TAM)tOagreatextent．InordertOoptimizetheSOCtesttime，theWrapperandTAM (testaccessmechanism)arede— signedtoreducethesinglecore’Stestoperationtime．BasedonapplyingthedifferencesecondaryallocationmethodtOhal— ancethescanchain，theTAM iSdivided．ThispaperiSaimedatthetesting timeandTAM width，andthemodelwil1be solvedbyusingNSGA—II(non—dominatedsortinggeneticalgorithm II)．Then，takingthed695circuitasanexamplefrom theITC’02standardcircuits，comparedwiththeSA (simulateannea1)andILP(integerlinearprogramming)algorithm，the experimentdatasshow thatthebetterresultscanbeachievedontheS0C testtimeoptimization，andontherelevanttest poweraswel1．ItprovdthatthemethodiSpracticable． Keywords：SOC；thedifferencesecondaryallocation；testingtime；TAM ；NSGA—II 方面进行 了相当多的研究 ，证明扫描链 的平衡是 IP核测 1 引 言