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2008年 12月 岩 矿 测 试 V0J,27.No,6
December2008 R0CK AND MINERALANALYSIS 451~462
文章编号 :0254 5357(2008)06—0451~12
高能偏振能量色散x射线荧光光谱仪应用现状和进展
吉 昂 ,李国会 ,张 华
(1.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海 200050;2.中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,
河北 廊坊 065000;3.PANalytical公司APR应用实验室,上海 200233)
摘要:对高能偏振能量色散x射线荧光光谱仪基本特点及其用于环境、生物、地质样品中痕
量元素的分析和RoSH检测等领域的应用现状予以介绍,并对二次靶与滤光片在痕量元素分析
中的应用作 了探讨。
关键词:高能偏振能量色散 x射线荧光光谱仪 ;应用现状 ;进展
中图分类号 :0657.34 文献标识码 :A
Application andDevelopmentofHigh-energyPolarized
EnergyDispersiveX-rayFluorescenceSpectrometer
J/Ang ,LIGuo—hui,ZHANGHua。
(1.ShanghaiInstituteofCeramics,ChineseAcademyofSciences,Shanghai 20005,China;
2.InstituteofGeophysicalandGeochemicalExploration,ChineseAcademyofGeological
Sciences,Langfang 065000,China;3.ApplicationLaboratoriesfor
PANalyticalAPR,Shanghai200233,China)
Abstract:Theanalyticalfeaturesofhigh—energypolarizedeneryg dispersiveX—rayfluorescencespectrometerandits
applicationintraceelementanalysisinenvironmental,biological,geologicalandRoSH sampleswereintroduced in
thispaper.Andtheapplicationofsecondarytargetandfilterintraceelementanalysiswasalsodiscussed.
Keywords:high—eneryg polarized energydispersiveX—rayfluorescencespectrometer;application;development
能量色散x射线荧光光谱仪(EDXRF)近 10年 上是为了弥补传统的EDXRF和波长色散x射线荧
来有 r长足的进展,已发展为 4个分支:① 传统的 光光谱仪 (WDXRF)的不足,提高重元素的检测下
EDXRF谱仪。最大电压为50kV,功率9~50W,通 限。1999年 Harada等 详细报道 了应用 高能
常对原子序数小于45号的Rh(RhKeL=20.12keV) EDXRF谱仪分析碘的结果,指出使用高电压和单色
元素进行分析时,用K系线;对大于45号的重元素, 激发对痕量元素分析是有益的。2004年Nakai_2对
用L系线。在这一能量区问,轻元素的K系线与重 高能XRF在稀土元素分析、环境试样中有害元素分
元素的L系线和M系线重叠严重,影响分析效果, 析及考古、法学、地质和地球化学等方面的应用作了
特别对环境、生物样品中cd、№ 、PI】等有害元素的 评述,使用的仪器主要是同步辐射光源和实验室装
检测,常常不能满足要求。② 微束 EDXRF谱仪。 置(实验室装置所用高压为
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