基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩.pdfVIP

第29卷 第 11期 仪 器 仪 表 学 报 V01．29No．11 2008年 11月 ChineseJoumalofScientificInstrument NOV．2008 基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩 赵中煜，彭 宇，彭喜元 (哈尔滨工业大学 自动化测试与控制系 哈尔滨 150080) 摘 要：随着电路集成度和复杂度的不断增加，电路测试所需的测试矢量集的规模也迅速增长。本文针对现有测试集压缩算 法全局寻优能力不足的问题，提出一种基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩方法。紧致遗传算法不但具有 良好的全局搜 索能力，而且其基于小种群进化的特性可以有效地降低计算花费，非常适合处理数据大的大规模测试集压缩问题。对 ISCAS一85 标准 电路测试集的实验表明，与同类方法相 比，该压缩方法能够得到更小的测试集。 关键词：测试集压缩；紧致遗传算法；组合电路；集合覆盖 中图分类号：TP306 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：621．3