奈米二氧化钛之X光吸收光谱检测和分析.pdfVIP

奈米二氧化钛之x光吸收光谱检测与分析 杨宗烨’，林鸿明1，吴泉毅1，林中魁2，魏碧玉1，戴明凤3 (I大同大学材料工程学系，台北104；2逢甲大学材料科学系，台中407；3．中正大学物理系．嘉义621) 摘要：利用同步辐射光源对奈米二氧化钛材料进行X光吸收光谱研究，包括X光近绦结构(可以 用来检测材料中特定原子之电子组态)及延伸X光吸收精细结构(可用来测定原子之区域结构)两大 部分，本文介绍了x光吸收光谱的基本原理，并研究奈米二氧化钛材料之结构性质，经由x光吸 收光谱在原子短程结构及电子组态上之优点．与传统XRD长程有序分析及TEM等结果相互配合， 可使我们更加了解奈米二氧化钛材料之结构特性． 关键词：奈米二氧化钛微粒；煅烧：X光近缘结构；延伸x光吸收精细结构 1 前言 奈米材料是指其晶粒大小介于l一100∞闭之材料，由于其具有与一般结晶或非晶质相不同之 原子结构，其与传统材料之性质亦有所不同，如光学、磁性、热传、扩散、机械等性质；同时因 其晶粒小，可使原本无法混合之金属(或聚合物)形成合金或复合材料【14l由于这些不同于传统块 材或粉末材料之优异物理化学性质，奈米材料在国际间已为一重要之学术领域。工业上之应用也 曰趋重要． 扫瞄式电子显微镜(SEM)等为主；若以XRD进行结构分析，由于奈米材料之晶粒小．常无法得到 足够的绕射峰强度，虽然TEM可以提供结构分析。但毕竟所能检测之材料仅占整体之一部分． 同步辐射是一种光源，其本质与传统之x光相同，均为电磁波，它的产生是由电子束在光速 下进行圆周运动而发射出来的．其产生之高亮度X光(或uV光)，已被广泛地应用在物理化学等各 研究领域中．利用同步辐射光源对材料进行x光吸收光谱研究，主要包括X光近缘结构(x．ray AbsorptionNear-Edge X．ray Fine Absorption 态，丽EXAFS可被用来测定原子之区域结构(Locals恤lcture)，得知原子与其邻近原子间之距离、 种类及数目等．x光吸收光谱可发挥其在原子短程结构及电子组态上之优点，与传统XRD长程有 序分析及TEM等结果相互配合，可使我们更加了解奈米材料之结构特性． 2原理 当物质受到x光照射而吸收x光，可以用吸收系数臁表示其吸收的程度，若以／o表示入射 x光之强度，，表示出射光强度，样品厚度为x，则可以下式来表示其相互之关系： 1=loexp(一』Ⅸ) 若X光的能量改变，即使物质中的原子不吸收，因为散射等因素，测得之出射光强度仍会比入射 光强度减小，这种现象会随X光能量增强而逐渐平滑地降低，构成吸收光谱的底线．当X光的能 量逐渐增强至物质中所含原子之吸收限(AbsorpdonEdge)，原子的内层电子开始吸收x光的光子， 经费瓷鼢编号Nsc89—2216．E-03nO”，新竹同步辐射中心在实验设备与测量上给于扳太坼助 翼型—————～』塞壁兰!查鲞三墼些丛查兰垄堡坚垄堂丝塑皇坌堑 !! 跃迁至外层之空轨域，造成吸收系数激增，即形成 所谓的x光近缘结构(XANES)，其范围约从原子之 吸收限以上约50 ev左右，图l所示为Ti原子之x 光吸收光谱。不同原子其吸收限之能量随亦不同， 且其近缘结构会受中心原予之对称性、氧化数、及 u0=e8目o《1E 所键结之邻近原子影响．简而言之，x光近缘结构 (XANES)可以检测材料中特定原子之电子组态． Photo 当x光的能量继续提高，内层电子终于跃迁至 energy(keV) 连续层．形成光电予，而离开原来之吸收原子，若 图1TiK吸收限之X光吸收光谱 吸收原子的紧邻另有原子存在，则射出之光电子与之作用而折返，因此出射的光电子与折返的光 电子间即产生干绕现象(Interference)，吸收系数的大小随相差的改变而逐渐变化，呈现周期性变化， 这种变化从近缘区以上约1000