ICP-MS主流产品技术参数.docVIP

赛默飞世尔XSeries II电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 新一代是XSeriesII 当前世界上最小的台式ICP-MS，其所用空间甚至小于一些AAS系统。创新的保护性离子提取技术和Infinity II 型离子透镜技术，使XSeriesII 具有同类产品中最低的背景噪声。此外，第三代碰撞反应池技术（CCT）可以使用简单碰撞气体，反应气体，和混合气体。有效地消除由样品集体或等离子体源引起地多原子离子地干扰，并保证副反应最小化。伴随Xt和Xs接口应用，进一步改善了检出限。半导体控温系统和碰撞反应池技术使XSeriesII? ICP-MS成为当前四级杆ICP-MS仪器中拥有最高地信噪比性能。 ????? 高性能四极杆分析器所需的高真空系统由一个全新的分流式涡流分子泵后接一个机械泵提供。可以使用7% 氢气/氦气混合气或1% 氨气/氦气混合气于CCT模块中。这样便解决了将高纯度的氢气或氨气直接通入CCT中所造成的潜在的腐蚀问题。同时也大大提高了仪器的稳定性和操作安全性。 ????? 同时型模拟/脉冲检测器以及其实时的多通道电子学系统提供了大于8个量级的动态线性范围，这使得仪器能够同时适应稳定信号和瞬时信号分析。 【技术参数】 灵敏度（cps/mg/L）：Be7×106????? In60×106????? U60×106 背景噪声（cps）：0.5 (220amu) 信噪比：120×106 短期稳定性：1.5%RSD 长期稳定性：3%RSD 氧化物离子：CeO+/Ce+2% 检出限(3 ，ng/L)：Be3Co，In，U0.5 同位素比精度：0.2%(107Ag/109Ag) 热焰高灵敏度模式： 灵敏度(cps/mg/L)：In200×106???? U200×106 背景（cps）：1 (220amu) 高灵敏度模式信噪比：200×106 冷焰模式： 检出限(3 ，ng/L)：Li1；Na29；K20；Ca30；Fe5。 第二代碰撞池技术模式： 检出限(3 ，ng/L)：Se(80)20；As(75)50。 灵敏度（cps/mg/L）：In20 方法检出限MDL：Fe3ng/L 稳定性：2%RSD (10min) 背景ArO:Co比(10ng/L) ：质量数56与59之比3 【详细参数】 ICP源：27.12MHz全固态技术，晶控，动态调谐的RF发生器，最大功率1600 W。计算机控制功率调节，每10W连续调节，最佳功率设置被定义并储存在每个分析方法内，适用于不同种类的样品，计算机自动点火与熄火。 炬管：整体型石英炬管，1.5mm口径喷射。 炬位调整：计算机全面控制x、y、z三维炬管的精确位置(水平，垂直采样深度)，所有调整参数存入分析方法内。 ICP气体控制：3个由计算机控制的质量流量计，用于雾化气，辅助气，等离子体气的全部气量流量控制。 炬室保护：全面的炬室RF射频源辐射泄露防护和紫外光防护，符合FCC标准。 安全自锁保护系统：在意外事件如停电发生时，安全自行关机，而不损坏仪器系统，所有不正常失败事件都记录在电子错误文档内，包括日期和时间。 进样系统：敞开式进样系统结构，并使用外部安装的雾化器，包括一个标准型炬管，插入式安装定位，自我定位，无需调整。炬室采用关闭式屏蔽防护，法拉第网格用于射频辐射。炬室门上装有全面防紫外线的观察窗。 蠕动泵：计算机控制的3通道12滚轴的低脉冲蠕动进样泵，转速可调(0~100rpm)。 雾化器：石英玻璃同心雾化器(0.8mL/m)。 雾化室：小死体积，低记忆效应，空气冷却的或采用半导体Peltier制冷装置的高纯石英雾化室，单通道梨型带撞击球。适用水溶液和有机试剂。 接口：等离子体接口具有独特的活动接口门结构，易于替换和装卸采样锥与截取锥，更宽的动态响应范围，更低的多原子离子干扰水平，更结实耐用。 滑动阀门：计算机控制真空滑动阀门，等离子体炬焰熄灭之后自动关闭真空阀门，保护真空系统，允许操作者在真空系统工作时拆装和清洗采样锥和截取锥。 InifinityTM离子透镜：InifinityTM离子透镜组，配有高效率六极杆离子导向系统，保持在全质量范围内最佳的离子传输效率，计算机控制的交互式或全自动的离子聚焦最佳化调谐过程，获得的最佳工作参数储存在分析方法内，随时提供调用，真空室内的透镜使用非对称安装，方便拆装定位。Chicane离子偏转镜，消除光子和中性分子，降低背景至0.5cps。 四极杆特征：钨四极杆，离轴，极杆230mm×12mm，使用非对称安装组架，方便拆装定位。免维护四极杆质谱仪，顶端开盖安装四极杆，检测器，离子透镜组。 四极杆RF发生器：风冷，固态，2..0MHz，四极RF发生器，质谱质量数校正稳定性0.05amu/day，0.1aum/month。 质谱范围：2~255amu。