原创力文档- 1、本文档共5页，可阅读全部内容。
- 2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
基于FPGA的LCR测试仪.pdf
( )
第 39 卷 第 1 期 武汉大学学报 工学版 Vol . 39 No . 1
2006 年 2 月 Engineering Journal of Wuhan U niver sit y Feb . 2006
文章编号 :167 18844 (2006) 0 110 105
基于 FP GA 的L CR 测试仪
徐丽娟 , 邹云屏 , 黄 柱 , 汤 琛
(华中科技大学电气与电子工程学院 ,湖北 武汉 430074)
摘要 :介绍了一种 L CR 测试仪 ,它利用 F P GA 实现直接数字频率合成 ,产生波形好 、幅值稳定的正弦波作为测
试激励信号 ;相敏检波器设计方法独特 ,利用数字全波鉴相 ,提高了鉴相效率 ,改善了鉴相效果 ;采用了基于 自由
轴伏安测量法的测量原理和四端测量技术 ,并用 C 语言实现分布参数校正.
关键词 :F P GA ;频率合成 ; 自由轴法 ;数字鉴相器
: TM 933 A
中图分类号 文献标识码 :
Development of a LCR testing instrument based on FPGA
XU Lij uan , ZOU Yunp ing , HU AN G Zhu , TAN G Chen
(College of Elect rical Elect ronic Eng . , Huazhong U niv . of Seience and Technolo gy , Wuhan 430074 , China)
Abstract : A L CR t e sting in st rument ba sed on F P GA i s int ro duced . It u se s F P GA to realize DD S (direct
digit al f requency synt he si s) and creat e s sine wave . The sine wave i s con sidered a s t e st p umpin g signal
w ho se wavefor m i s goo d and amp lit ude i s st able . De signing met ho d of p ha sesen sitive det ector i s unique .
Digit al f ullwave p ha se det ecting i s app lied to imp rove efficiency an d effect of p ha sesen sitive det ector .
The voltamp ere mea suring p rincip le ba sed on f reeaxi s an d fourt er minal mea suring t echnique are de
scribed . It al so u se s C lan guage to correct di st ribution p aramet er .
Key words : F P GA ; f requency synt he si s ; f reeaxi s met ho d ; digit alp ha sed det ector .
( )
随着可编程专用集成 电路 A SIC 技术的发 智能参数测试仪.
展 ,各类仪器日趋小型化和智能化 ,测量分立元件
文档评论（0）