基于折叠集的低功耗测试.pdfVIP

第27卷第 12期 计算机应用 Vo1．27No．12 2007年 12月 ComputerApplications Dee．2oo7 文章编号：1001—9081(2007)12—3l19一o3 基于折叠集 的低功耗测试 祝沈财 ，蒋翠云 ，梁华 国 ，叶益群 ，张 念 (1．合肥工业大学计算机与信息学院，合肥230009； 2．舍肥工业大学 理学院，合肥230009) (zsc188zsc@sohu．con) 摘 要：提出了一种利用折叠计数器特点，基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相 关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障，然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试 向量。在硬件上，采用一个地址计数器和随机访 问扫描 (RAS)结构相结合实现了并行的折叠控制。 与传统的混合测试模式相比，克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明，该方案能够有 效降低测试功耗和测试时间。 关键词：编码；低功耗 ；折叠计数器；折叠种子 中图分类号：TP391．76 文献标志码 ：A Lowerpowertestschemebasedonfoldingtestset ZHUShen．cai，JIANG Cui．yun ，LIANGHuaguo，YEYi．qun，ZHANG Nian (1．SchoolofComputerandInformation，HefeiUniversityofTechnology,HefeiAnhui230009，China； 2．SchoolofScience，HefeiUniversityofTechnoolgy,HefeiAnhui230009，China) Abstract：Afulldeterministiclow powertestschemebasedonthefeatureoffoldingcounterwaspresented．Firstly， severalfoldingtestsetswereusedtodetectmostofthepo tential faultsandthenthedatainscna cellswasinvertedtogenerate thetestpatternsfortheotherfaults．AnaddresscounterandRnadomAccessScan(RAS)werecombinedtoimplementa parallelfoldingcontroller．Comparedwith thetraditional mixedmodetest，the testpowercausedbypseudo-random test patternswasdecreased．Experimental resultshowsthatthetotal testpowerna dtesttimecna begreatlyreduced、 Keywords：encode；low power；foldingcounter；foldingseed 较大。 0 引言 针对测试期间的功耗问题 ，本文提出了一种新的低功耗 随着集成电路系统复杂度的增加，特别是片上系统 SoC 测试方案。该方案充分利用了折叠集控制简单 ，向量间相关 (System。on．a．Chip)的出现，集成电路测试面临越来越多的挑 性高的优点，用几个折叠集取代伪随机测试 向量检测 电路中 战，测试期间的功耗问题就是其中之一。相关研究表明，芯片 大部分的故障，从而达到降低测试功耗的目的。根据测试数 在测试期间的功耗是正常运行时的3倍 j。这是因为正常工 据生成方式不同，本方案可以分成两个测试阶段。第一阶段： 作模