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红外热成像组件测试分析系统 Thermal Infrared Imaging Component Measurement System 作者：寇小明 沈 强 职务：高级工程师 公司：陕西海泰电子有限责任公司 应用领域：产品测试 可灵活性与扩展性。 进行的匹配调试工艺建立专 挑战：寻求一种可以兼顾科研 用的性能检测与监控系统，以 分析和生产过程工艺控制以 引言 保证系统的质量。 及现场试验与维修检测的一 红外热成像组件通常由 为了从研制水平和生产 体化便携式红外热成像组件 红外镜头、光机扫描器、探测 工艺控制两个方面同时采取 测试分析系统。 (制冷)器、信号处理单元、控 措施提高系统的成品率，通常 应用方案： 采用National 制通讯及显示装置等组成。信 需要进口专用的红外综合检 Instruments公司PXI模块化仪 号处理单元是红外热成像组 测仪，这种仪器测试的参数 器结构，在LabVIEW、IMAQ 件的重要组成部分，它包括探 全、精度高的，但造价非常高， Vision 、Digital Multimeters等 测器输出的红外视频放大电 且只能进行整机测试，不能进 工具软件下开发了可以实现 路、数字扫描转换电路、数字 行仿真和控制，不易维护和升 分级测试、系统测试调试及系 图像处理电路、光机扫描伺服 级。如果采用标准箱式仪器搭 统性能分析功能的红外热成 控制指令电路和模拟/数字输 建这套测试系统，则需要示波 像组件虚拟仪器检测调试分 出显示电路等。对红外热成像 器、万用表、任意波形发生器 析系统，具有良好的灵活性和 组件而言，除系统的光学性能 （多台）、高速同步数据记录 扩展性。 外，传感器的响应特性如信号 仪 （多台）、动态信号分析仪、 使用的产品 ： LabVIEW, 传递函数、图像均匀性、图像 传递函数分析仪、逻辑分析仪 IMAQ Vision, Digital 信噪比，扫描与图像时钟信号 等设备。由于是分立测试，不 Multimeters, NI Scope, PXI 的同步精度、热图的控制性能 能保证信号之间的同步时序， 5112, PXI6115, PXI5411, 及其通讯控制能力等也是系 体积庞大、接线复杂，即使如 PXI4060 等 统的主要性能指标。由于内含 此，对热图像分析来说，仍然 复杂、精密的光学部分和电子 是无能为力的，特别是对于系 介绍 线路，影响产品性能的因素非 统的 MTF、SiTF、MRTD 、 本文论述了红外热成像 常之多，如传感器的响应特性 MDTD 、NETD 等系统总体性 组件虚拟仪器检测调试分析 曲线、处理单元的冲击响应、 能指标的测量，无法实现专用 系统