X射线衍射法测定分子筛硅铝比和结晶度.pdfVIP

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2017-08-08 发布于安徽
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X射线衍射法测定分子筛硅铝比和结晶度.pdf

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22 4 Vol . 22 N o. 4 2 0 0 2 1 2 JOU R NAL OF F USHU N P ET RO LEU M IN ST IT U T E Dec. 2002 : 1005- 3883 2002) 04 - 0034- 04 X 沈春玉, 储刚, 刘发起 , l1300 1) 29 : 用 X 射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY 分子筛的晶胞参数和结晶度, 经晶胞参数与 Si 27 Al 固体魔核磁共振谱仪测定N aY 分子筛骨架中的硅铝比关联的经验公式, 得到的X 射线衍射法测定N aY 分子筛骨架中硅铝比的分析方法, 以便满足 NaY 分子筛骨架中硅铝比测定工作的需要结果表明, 测定NaY 分子筛硅铝比晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理, 使其饱和吸水 : 晶胞参数; 结晶度; N aY 分子筛; 硅铝比 : T G 115 . 22 : A [ 4] , N aY , [ 1] , 1 原理 N aY , SiA l N aY , O , Si A l , , , Si - O Al - O , , N aY , EDT A 80 h , , X NaY a= b= [ 2] 20 h , , [ 5] c , = = = 90) X N aY 2 2 2 2 2 [ 3] 1/ dhkl = ( h + k + l )/ d ( 1) , XPS ( 1) X 2 2 2 N aY a= dhkl h + k + l (2) dhkl = / ( 2sin ) 3) , N aY , 29 27 , dhkl ; X ; hkl