电接触不良对数字通信误码率的影响.pdfVIP

中雷电子学舍第十届电子元件学术年各论文集98卓9月 电接触不良对数字通信误码率的影响 孙百生 章继高 北京邮电大学电接触科研室 摘要 本文以现场搜集的连接器为基础，分析了可能导致电接触不良的因素，根据电 接触理论结合高频传输的特点建立了电触点的物理模型，井以光通信系统中数字配 线架上的同轴连接器为铡，从理论上分析探讨了电触点故障导致误码率增高直至传 输中断的可能性。 关键词：电接触 误码率 连接器 一。前言 近三十年来我国的信息科学飞速发展，光通信与计算机网在近些年来发展的更是迅猛。 但有些数字通信网工作一段时间后误码率越来越高。通过专家们的调查研究发现，引起误码 率提高的一个重要原因之一是系统中的连接器电接触不良。这种不良引起误码率高的特点是 不稳定，时好时坏，再现性差，查找困难。进一步研究表明，造成电接触不良的因素很多。 如触点材料，弹性，接触压力，接触表面粗糙度，硬度，表面耐磨性，表砸镀金层质量，微 动磨损，插拔磨损及环境条件等(腐蚀气体，灰尘，温度和湿度)。但这些因素怎样影响连 接器的质量，其造成电接触不良的机理是什么却不很清楚。特别是电触点不良怎样影响传输 参数从而导致误码率增高直至传输中断更是不清楚。为保证系统可靠就必须保证电接触可 靠。而为保证电接触可靠就必须了解各种因索对其影响及可能产生的对信号传输的影响。本 文在下述三个方面作了初步的探讨： 1。环境等因素对电接触的影响 2。高频(高速率数字)电路中非理想电触点模型 3。电触点不良导致误码的机理。 二。环境等因素对电接触的影响 影响电接触可靠性的因素很多，其中影响较大的就是环境与连接器的质量。图1和图2 分别为从某通信站现场收集来的失效连接器插针和插孔的接触表面的扫描电子显微镜(SEM) 图像。从中可以清楚的看到在接触表面存在着大量的腐蚀物。用x射线能谱仪(XES)分析 腐蚀物成份，结果如表1和表2所示。从中可以看到在镀金表面发现有铜，镍，硫和氯等元 素，表明腐蚀物可能是镍和铜的硫化物和硫酸物，氯化物和氧化物(因氧的原子序数小于11 ·265· 故表上没有)。这表明尽管接触表面镀有金层．如镀金质量不好(有微孔等)则基底材料同 样可能受到腐蚀。而腐蚀生成物将覆盖到接触表面从而影响接触性能。同时从表2中还发现 有典型的尘土成份如钙，钾等，表明接触表面有尘土。通过长期暴露实验及对失效样品的分 析研究，结果表明腐蚀和尘土等是引起电接触不良的重要原因a l元索 取样1(alo)取样2(alo) 『Cu—K 16．93 10．10 【Au—L35．17 19．86 Ni—K18．95 536l S—K 24．OL li．12 Zn—K4．94 5．31 表1．插针表面元素成分 图2—1．连接器插针接触表面的SEM照片 (Eo=20KV，t=100sec．) 元素 取样l(a／o)取样2(a／o) Cu—K2828