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×X小型高低温试验箱故障树分析技术初探 刘伟明 51 电子部第五研究所(广州 0610) 摘要：本文对xx小型高低温试验箱故障树分析技术做了初步研究，导出了详细 故障谱，对提高该系统可靠性水平具有重要工程价值。 一、引 言 系统可靠性分析中常常使_I_lj故障树分析法，其优点是直观清晰地反映山了系统各元件 间的逻辑关系，易于有关人员掌握，又具有灵活性——衬全系统进行分析或从某中间事件 起对某子系统进行分析。另外故障树模型不但可考虑系统每一个硬件火效对其影响，还可 考虑环境、使用等因素对系统的影响。而且刚故障树分析法对复杂系统或网络进行定性和 定量的分析，所作的定量计量既可_}}；I手算也可用计算机进行。下面运明故障树分析方法 (FTA)对已取得阶段性成果的××小型高低温箱进行分析。建立了该系统的故障树，以 此为基础计算系统有关的可靠性参数和各种故障因素的重要度。并通过分析比较，对提高 该系统可靠性的水平做了初步探讨。 二、故障树分析技术初探 建立系统故障树，如图l所示，故障树的顶事件为“××小型高低温箱系统故障”。 这里只列出其中的一支子树枝“压缩机组不运转”，以便对设备可靠性进行分析和研究。 如图所示，故障树的最小割集清楚地反映了造成顶事件发生的全部基本因素承I基本条1，I：， 是系统的全部故障谱，为系统的定性和定量分析提供了依据。 假设已知系统的最小割集及各基本事件的故障率为丑，则 顶事件发生的概率是Pr(TOP)，因所要计算的参数是系统首次故障前平均工作 ·257· 时问MTTF，故从可靠性角度讲，所分析的对象为指数失效分布系统。此时顶事件 故障概率即为系统的不可靠度F(t)。 对指数型失效分布部件，基本故障事件(如图l中棱形图形所示的故障现象) 发生的概率q．(t)有 q小)=Fj(t)=1一R，(t)=l—e-五J7 (i=1，2，．．．，n) 式中，n为基本事什数：^．为第i个基本事件的故障率。 则有最小割集发生的概率pu(t) Pcj(t)2卧(1。-18／)2珥q心) 式中，Ci为第j个最小割集发生：n为最小集中所包含的基本故障事件数目： B为第i个基本故障事件。 重要度直接反映了基本故障事件域最小割集对故障事件发生的贡献程度，提供了 提高分析系统可靠性的途径和方法。 假设底事件随机变量相互独立，顶事件发生概率函数为 、 》 一 o=h(q1．．，q。)=h(q“) 基本故障事件重要度为最小割集K发生的概率与顶事件发生概率之比 记作B(Kq)。则有 兀g B(f J q)-耘 式中，h(q8)为顶事件故障概率 ·259‘ 根据包除原理，顶事件发生的概率为 _Ⅳc C Pr(TOP)Pr【Ui】 ， f=I №