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a. 德拜-谢乐照相法 根据衍射线条的相对位置和相对强度计算：θ和d(HKL) sin2? ~ H2+K2+L2 令 H2+K2+L2 = m 同一花样中，任意线条λ, a 为定值，各衍射线条的 sin2?1 : sin2?2 : …＝ m1 : m2 :… ＝ H12+K12+L12 : H22+K12+L12 立方晶系点阵消光规律 立方晶系指数标定 不同结构类型的晶体，系统消光规律不同，产生衍射晶面的 m 顺序比不同。简单立方没有点阵消光，但是 m 的顺序比缺 7, 15, 23 等。体心立方有点阵消光，但是其m 的顺序比连续，不缺； 通过衍射线条的测量，计算同一物相各线条的 m 顺序比，可确定该物相晶体结构类型及各衍射线的衍射指数。 立方晶系晶胞常数计算 由d (HKL)及 H2+K2+L2 值可求晶格常数a。 (3) X 射线衍射仪法 按多晶衍射原理，用衍射光子探测器和测角仪来纪录衍射线位置及强度，I ～θ曲线记录衍射花样，进行晶体衍射实验的设备称为 x-ray 衍射仪。 X 射线衍射仪结构： X-ray发生系统（产生稳定x-ray光源） 测角及探测控制系统（测量衍射花样，使光源、试样、探测器满足一定的几何和衍射条件） 衍射线强度测定 ① 峰高强度：衍射线的峰高对应的强度。 ② 积分强度：曲线以下背底以上区域面积。 样品制备 ① 颗粒平均粒径控制在5μｍ左右（320目） ② 在加工过程中，防止由于外加物理或化学因素影响试样原有的性质。 衍射花样： 衍射花样千变万化，3个基本要素： ① 衍射线的峰位 ② 线形 ③ 强度 一般衍射花样（I～θ曲线）纵坐标的单位是：每秒脉冲数（CPS）。 X 射线衍射仪的优点： 检测快速，工作效率高。 操作简单，数据处理方便，精度高，自动化程度高。 应用范围广泛 (可进行高温衍射测量)。 衍射仪法与 Debey-Sherrer 法的对比 (3) 多晶物相分析 1 标准卡片及其索引 A) PDF卡片 B) 索引方法 2 定性物相分析 3 定量物相分析 检测器和晶体样品的转动由计算机控制，晶体相对于入射 X－射线取某些方向时以特定角度发生衍射，衍射强度由衍射束方向上的检测器测量并被记录、存贮。通常至少要收集 1000 个以上的衍射强度和方向的数据，每个结构参数 (即各原子位置和由热运动造成的位置变化范围) 需获得 10 个以上衍射数据。 通过直接法程序或者根据衍射数据提供的信息结合原子排布的知识选定一种尝试结构，通过原子位置的系统位移对尝试结构模型进行调整，直到计算的 X－射线衍射强度与观测值相符合，并得到合理的电子密度线图，得到各种原子在晶体中的坐标参数，从而测定出晶体结构。 将电子计算机和衍射仪法结合通过程序控制，自动收集衍射数据，大大提高了衍射强度收集的速度和精确度。 * 多晶衍射实验方法 复习-1 多晶衍射花样的指标化及晶胞参数的计算 复习-2 9 27 333 10 20 420 11 11 311 10 8 24 422 9 18 411,330 10 10 310 9 6.67 20 420 8 16 400 9 9 221,300 8 6.33 19 331 7 14 321 8 8 220 7 5.33 16 400 6 12 222 6 6 211 6 4 12 222 5 10 310 5 5 210 5 3.67 11 311 4 8 220 4 4 200 4 2.66 8 220 3 6 211 3 3 111 3 1.33 4 200 2 4 200 2 2 110 2 1 3 111 1 2 110 1 1 100 1 mn/m1 m HKL mn/m1 m HKL mn/m1 mn HKL 面心立方 体心立方 简单立方 衍射线序号 n H+K+L为偶数 H、K、L全奇或全偶 sin2?n : sin2?1 由实验得到 复习-3 简单 体心 面心 复习-4 复习-5 2. 聚焦法 利用发散度较大的入射 X 射线束，照射试样上较大区域，由多晶体试样中某一组 (hkl) 晶面族所发生的衍射线束在照相底片上仍然聚焦到一点 (或一条细线) 的衍射方法，称为聚焦法。该方法比德拜-谢乐法具有更高的灵敏度。 SABN 弧长在每个照相机上是常数。在实际工作中往往先作一些标准样品的聚焦衍射花样，以及同一样品但采用不同辐射的衍射花样，测出每个衍射线条与刀口阴影间的距离L(hkl), 并将所有L(hkl)值与计算得到的相应衍射角?(hkl) 关系画成 L- ? 曲线，供以后测量其他底片时对照。 聚焦法基本原理 N ，可将样品制成平板状 X 射线测角仪结构示意图 记录和数据处理系统。 当一束单色X－射线照到样品上，在理想情况下，样