门电路逻辑功能及测试.docVIP

实验一 ：门电路逻辑功能及测试 实验目的 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 进一步熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。 原理说明 本实验采用74系列的TTL门电路，包括与非门、异或门和反相器，其逻辑功能说明祥见教材。 实验前按学习机使用说明先检查学习机电源是否正常。然后，选择实验用的集成电路。按自己设计的实验接线图接好线，特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。 实验设备及器件 双踪示波器、数字逻辑电路学习机。 器件： 74LS00 二输入端四与非门 2片 74LS20 四输入端双与非门 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六反相器 1片 实验内容 1.测试与门电路逻辑功能 （1）选用双四输入端与非门74LS20一只，插入面包板，按图1.1接线，输入端接S1～S2(电平开关输出插口)，输出 端接电平显示发光二极管（D1～D8任意一个） （2）将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。 表1.1 输入 输出 1 2 3 4 Y 电压（V） H H H H 0 197mV L H H H 1 3.57