固体中二氧化硅的检测方法_.pdfVIP

二氧化硅的测定方法 秦 克 刚 （武汉理工大学西院测试中心 430070 ） 摘要： 本文介绍并比较了测定二氧化硅多种方法的优缺点，及其应用中应注意的事项。 关键词：挥散法， 二氧化硅的测定方法有多种，下面逐一将不同方法作简单介绍。 1 挥散法 若某个试样中二氧化硅的含量在98% 以上，应用氢氟酸挥发重量差减法（即挥散法）来测定 SiO2含量。具体测定步骤如下： 将铂坩埚中测定过烧失量的试样，用少量水润湿，加入4～5滴硫酸及5～7mL氢氟酸，放在电 炉上低温加热，挥发至近干时，取下放冷，再加2～3滴硫酸及3～4mL氢氟酸，继续加热挥发 至干，然后升高温度，至三氧化硫白烟完全逸尽。将铂坩埚置于高温炉中，于950℃温度下灼 烧30分钟，取出放在干燥器中冷至室温，称重。如此反复灼烧，直至恒重。 SiO2=×100 G1——测烧失量时灼烧后试样和坩埚的重量,g； G2——残渣和坩埚的重量,g； G——试样的重量，g ； 若试样中SiO2含量在98% 以下，采用上述方法测定SiO2将引起较大的误差。这种情况下，宜 /question/2014227.html?fr=qrl3（第 1／5 页）2007-6-16 17:06:50 固体中二氧化硅的检测方法_百度知道 采用重量法或氟硅酸钾容量法来测定。 2 重量法 对可溶于酸的试样，可直接用酸分