利用热释光剂量探测器测量γ射线剂量.docVIP

实验四：利用热释光剂量探测器thermoluminescent detector (TLD)测量γ射线的累积剂量 一、实验目的 1、了解LiF(Mg，Cu，P)热释光材料用于剂量测量的原理及特性； 2、掌握使用热释光剂量计测量个人剂量、环境剂量的基本原理和过程； 3、掌握热释光相关仪器的组成和基本使用方法； 二、实验原理 1、能带理论按照能带理论，晶体物质的电子能级属于两种能带：处于基态的已被电子占满的允许能带，称为满带；没有电子填入或尚未填满的容许能带，称为导带。它们被一定宽度的禁带所隔开。在晶体中，由于存在杂质原子以及有原子或离子的缺位和结构位错等，从而造成晶体结构上的缺陷。这些缺陷破坏了电中性，形成了局部电荷中心，它们能吸引和束缚电荷，在能带图上，也就是相当于在禁带中存在一些孤立的局部能级。在靠近导带下面的局部能级能够吸附电子，又称为陷阱；在靠近满带上面的局部能级能够吸附空穴，称为激发能级。在没有受到辐射照射前，电子陷阱是空着的，而激活能级是填满电子的。 当辐射照射晶体时，产生电离或激发，使带或激发能级中的电子受激而进入导带，同时带或激发能级中产生空穴在测量过程中对晶体加热，俘获的电子受热以后，获得足够的能量摆脱束缚跃回低能态，同时多余的能量以可见光形式释放(简称热释光，符号TL)。晶体受热时发光量越大，表征它接受的累积辐射量越大。μ 时出现灵敏度下降的趋势，当LET值～300kev/μ时，灵敏度会下降10倍左右，把这种热释光材料灵敏度对辐射品质的依赖性成为LET效应。 对于我们使用的LiF(Mg，Cu，P)材料，LET效应相对要小一些，即性能更为优越，同时对常见的X、γ射线，由于能量均较低，因此对LET效应可以折合计算在最后的响应中从而可以忽略；对于变化剧烈的辐射场，则需要针对不同的LET值做不同的考虑。 2.7、光效应 辐照过后的热释光材料受到强光照射会发生2种效应——光衰退和光响应，前者是指光照射后原理的辐照热释光会衰减，一般以红外线效应最为明显；后者是指光照射后会产生热释光响应，一般以紫外线效应最为明显。因此，当辐照过后的热释光探测器，如果不及时进行读数而需要长期存放的话，需要在暗光条件下保存，进来减少外来光的影响； 2.8、衰退和重复使用 热释光材料辐照后热释光衰减的现象称为衰退，放置时间越长，放置温度越高，衰退越严重，并且低温热释光峰比高温热释光峰衰退更为严重。 由于辐照过后自由电子和空穴都不存在了，因此它不能重复读数；但由于电子陷阱和激活能级仍然存在，所以可以对热释光材料重复使用，方法是对读数过后的热释光探测器在一定温度下恒温加热一段时间，即进行所谓的退火，就可以是热释光探测器基本恢复原状而可以重复使用，物理原理请参考相关参考材料，不过灵敏度往往会发生变化，因此在使用多次后需要对热释光探测器重新刻度。 对于实验采用的GR-200型探测器，其退火条件是：低温退火温度为140℃、退火时间4min， 高温退火和测量温度均为240℃， 高温退火时间10min。不过一般情况下只要使用高温退火就可以了。 3、热释光探测器特点及性能参数 热释光剂量计用于个人、环境剂量监测的优点可以总结如下：组织等效性好，灵敏度高，线性范围宽，能量响应好，可以较长时间内的累积剂量，性能稳定，使用方便，并可对α、β、γ、n、p、X等各种射线及粒子的辐射剂量进行测量，因此热释光剂量法在辐射防护测量，特别是在个人剂量监测中得到了广泛应用。以当前实验采用的热释光探测器GR-200圆片型探测器为例，其性能如下： 型号 GR-200 材料 LiF(Mg，Cu，P) 用途 测量X、γ射线累积剂量 *能量响应(30keV～3MeV的光子) 20% 相对灵敏TLD-100 62 线性范围 100nGy～12Gy 探测阈 0.1μGy 4、热释光读数仪的工作原理热释光探测器受射线照射时能储存部分辐射能它被加热时，这部分能量以辐射热释光。热释光强度随加热条件而变化，两者之间的函数关系称发光曲线。某段区间内发光曲线下的面积，即该段区间内总光子数与被测TL探测器在辐射场中的吸收剂量成线性关系。热释光剂量仪就是根据这种特性设计的为提高测量精度和改善整机的可靠性，用单片机控制加热测量过程。光学系统则将热释光探测器发射的光子高效率地收集到光电倍增管光阴极上转换成电流。调节光电倍增管的工作高压可调整其放大系数，从而控制仪器的灵敏度。仪器的灵敏度用一个光强恒定的参考光源校正。光电流经电流-频率(i-f)转换器变成脉冲信号；在单片机控制下对此脉冲作累积计数，结果由数码管显示。测量结果同时存入数据存储器供打印机记录并可供计算机调用。 由于热释光测量是相对测量方法，因此热释光探测器在使用之前需要进行刻度。剂量计在测读仪器上的测量读数是一相对值，需要通过刻度