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第 32 卷第 5 期 红外与激光工程 2003 年 10 月 Vol. 32No. 5 Infrared and Laser Engineering Oct. 2003 红外焦平面阵列剩余非均匀性的计算 1 2 刘会通 ,易新建 ( 1. 华中科技大学 光电子工程系 ,湖北 武汉 　430074 ; 2. 华中科技大学 图像识别与人工智能研究所 ,湖北 武汉 　430074) ( ) 　　摘要 :从理论、计算方法和计算结果等方面分析了已有的三种剩余非均匀性 即剩余误差 计算 方法的不足 ,根据探测器非线性响应原理 ,提出了一种新的方法。以实验数据对有关方法进行了验 证 ,结果表明新的方法更为简单且更符合实际。与以前理论比较 ,推导出了近似公式。 关 　键 　词 : 　　红外焦平面阵列 ; 　非均匀性校正 ; 　剩余非均匀性 中图分类号:TN21 　　文献标识码 :A 　　文章编号 (2003) Calculation of residual nonuniformity for infrared focal plane array 1 2 LIU HuiTong ,YI XinJian ( 1. Department of OptoElectronics Engineering ,Huazhong University of Science Technology ,Wuhan 430074 , China ; 2. Institute of Pattern Recognition Artificial Intelligence , Huazhong University of Science Technology , Wuhan 430074 , China) Abstract :The shortages of current three methods of residual nonuniformity (residual error) calculation for infrared focal plane array are analyzed in aspects of theoretical premises , calculation methods and results , etc. Based on the response nonlinearity of infrared detector , a new algorithm is proposed. It is proved that this al gorithm is more concise and more accordant to experiments. In comparison with the previous theories , a proxi mate formula is also de