食品共晶_共熔温度测定试验研究.pdfVIP

第 10 卷　第 4 期 淮　海　工　学　院　学　报 V o l. 10 N o. 4 　 200 1 年 12 月 Jou rn a l o f H u a ih a i In st itu te o f T echno logy D ec. 200 1 　 ( ) 　　文章编号:200 1 食品共晶、共熔温度测定试验研究 1 2 程远霞 , 王国华 ( 1. 淮海工学院 食品工程系, 江苏 连云港　222005; 2. 洛阳工业高等专科学校 机械工程系, 河南 洛阳　47 1000 ) 摘　要: 对食品在冷冻过程中的导电机理进行了深入研究, 对试验数据进行了分析和处理, 得到了几 种食品的共晶、共熔温度。 关键词: 冷冻干燥; 共晶温度; 共熔温度 中图分类号: T S205. 7　　　文献标识码:A 0　引言 公式法等。其中电阻测定法, 测量范围广, 便于实施, 结果较稳定, 且操作方法简便, 是比较理想的测定方 食品物料的共晶、共熔温度是冷冻干燥过程中 法。因此, 本试验采用电阻法测量物料的共晶温度。 重要的基础参数, 它是影响冻干产品质量的重要因 电阻测定法的原理是: 食品物料的导电性是依 素。冻结温度过低, 会造成能源的不必要浪费, 也延 靠其溶液中带电离子的定向移动实现的。食品物料 长了冻干时间; 冻结最终温度设定过高, 物料没有完 在冻结过程中, 温度下降, 内部水分不断结冰, 能够 全冻结, 在抽真空升华时容易发生局部沸腾和起泡 移动的带电离子数量不断减少, 物料的电阻就逐渐 现象, 使被干燥物料中的部分水分在液体状态下汽 增大。当物料中的水分全部冻结成冰时, 带电离子即 化, 干燥时会发生收缩和失形现象以及冻干制品表 停止定向移动, 此时, 物料的电阻值变化率会突然增 面硬化现象。 大, 此电阻值所对应的温度即为该物料的共晶温度。 冻结的最终温度常以物料的共晶温度作依据, 利用 GR J 型共晶、共熔温度测试仪测量共晶温度 在冷冻过程中必须保证物料的温度低于其共晶温 的方法是: 用电极测量出食品物料在冻结过程中电 度, 否则, 就不能保证物料全部冻结。干燥时物料冷 阻的变化, 同时用温度传感器测量出物料的温度变 冻层的温度以其共熔温度为依据, 在干燥过程中, 物 化, 电阻突变点的温度就是该物料的共晶温度。 料干燥层的温度必须低于其共熔温度, 否则, 就不能 2. 2　共熔温度的测定 [ 1 ] 共熔温度的测定原理也是电阻法, 即: 冻结物料 保证水分全部以汽化的方式去除 。 在温度升高的过程中, 当达到某一温度时, 固体中开 1　试验条件 始出现液态的水, 电阻值变化率就会突然减小, 这时 的温度即为该物料的共熔温度。 ( 设备: GR J 型共晶、共熔温度测试仪 洛阳工 ) 3　测定