Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研究.pdfVIP

维普资讯 Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研究 汲云涛 ，任 中京 1．中国地震局 地质研究所，北京 100029；2．济南大学 颗粒测试研究所，山东 济南 250022 摘 要 ：测量下限是光散射颗粒测试技术的关键问题。本文通过理论 他分析技术。Mie散射理论是颗粒光散射的基础理 分析、比较归一化散射光强的分布图和构造方差函数 F d 对颗粒散 论，因此颗粒测量下限的确定，实质上决定于Mie散 射光的光强分布进行 了定性和定量的讨论，对 Mie散射向Rayleigh 射理论能谱的研究。本文以Mie理论为依据，通过理 散射趋近的情况进行了分析，讨论了散射光光强大小的分布，分析了’ 测量不同粒径的颗粒 的可行性，最终得到在入射光源是波长为 论分析和计算机模拟，确定测量下限的参考范围。 0．6328um的He一№ 激光器的情况下，当粒径 d取 200nlla以上时， 不同粒径颗粒的Mie散射光强分布有较大差别，适合用静态光散射 1 Mie散射基本公式 的方法来判断颗粒粒径。 关键词：颗粒；粒度；光散射；Mie理论 中图分类号：0436．2 文献标识码 ：A Mie理论是对处于均匀介质 中的各 同均匀I司性 文章编号：1008—5548 2005l06—0014—03 的单个介质球在单色平行光照射下的Maxwell方程 边界条件的严格数学解。入射光为完全偏振光时 0 StudyonApplicationofLowerLim_lbyMie 为散射角 ，为入射光振动面与散射面之间的夹 TheoryinStaticLightScatteringGranularity 角 ，垂直散射面的散射光强 ，和平行于散射面的 Measurement 散射光强 ，以及总散射光强 ，的表达式分别为 I I n O Iosin 1 J／Yunt·ao，RENZhong-jin~ 1．InstituteofGeology，ChinaEarthquakeAdministration，Beijing 忙 I I ocos z 0 IoCOS2 100029；2．ParticleMeasurementResearchCenter，JinanUniversity 250022Jinan，China Is-争 sin+： C0S2~] 3 Abstract：Thebottom boundaryisthekeypointofthelightscattering 其 中 technique．Thedistributionoftheintensity oflightscatteringwas Is I+I， Is I， I6 0 I discussedqualitativelyandquantitativelybytheoryanalysis，comparison sl O 、s 为散射振幅函数 ofnormalizedscatteringintensiyt distributionmapsandstructuringa variancefunctionF d ，therelationshipbetweenthetheory ofMie 种 cos 4 scatteringandRayleihg scatteringwasinvestigated．Thefeasibiliytof measuringpanic1esofdifferentsizewasanalysedandtheapplicablescope ofstaticlihgtscatteringprincip1eswereproduced,iftheparticlesizedwas s2 互 c 0 oS 5 above200nlTl，therewasmoredifferencebewteen theMiescattering intensiytdistributionsofpelletwithdifferentparticlesizes，inthesituation 式中，an、6为Mie散射系数，表达式为 thatincidentlightwavelengthwas0．6328Um，itwasappropriatetojudge theparticlesizewiththestaticlihgtscatteringmethod． 。 a 砂 c6 埘a 一埘 a 埘a KeyWOrds：particle；particlesize；lihgtscattering；Mietheory ^一 璺1 垒! 望 望j r7、 一 埘 a 砂 ma 一 a 埘a 静态光散射粒度分析，主要是依据不同大小颗 式中，埘是颗