高浓度超细颗粒系后向散射研究.pdfVIP

维普资讯 第7卷第 4期 中 国 粉 体 技 术 vd．7No．4 2001年 8月 CII11na w帕 rsc m m d 曲n 帮 t瑚 l 余大勇，蔡小舒，苏明旭，万振刚 (上海理工大学颗粒与两相流穗量技术研究所，上海 20~093) 摘 要：为了研究高i缸度状态下颗拉系后向散射规律 ，基于 Beer— n1b盯t定律、Mie散射理论盛复散射 的相 关理论建 1 理论背景 立了消光一散舯袁减模型，并针对具体算倒进行 了敷值计 典型的后向散射测量装置如图l所示。 算，络出计算结果。 关t词 ：后向散射；颗粒测量；反散射 中圈分类号：讲 36．2 文献标识码：A 文章编号：1008—5548(2001104—0001—03 颗粒测量涉及到国民工业的许多方面，如：过程 控制、环保要求等，比较典型的有：化学工业 中需要 测量晶体结晶的速度、大小，以对其过程加 以控制； 电力工业 中要求测量电厂烟气排放、煤粉粒度；对河 遗■ 流泥沙含量的估计；制药业需要测量药粉粒度大小、 田i 典型的后向散射奠■装置 针剂 中所含颗粒情况 ；大气颗粒悬浮物测量。在这 个需求上发展出很多的测量方法，其中光散射测量 平行光照射分光镜、反射光部分照亮样品池，光 法具有很大的优势，它具有方便 、快捷、不接触 、对测 束遇样品池内颗粒的后向散射光信号通过透镜被探 量体没有影响的优点，从而适合于在线测量。现在 测器接收。光束在样品池 内的情况可分解为消光和 的研究很多集中在前向和侧向接收的方法上。当颗 散射衰减过程。消光沿 方 向，到达某处的光一部 粒浓度 比较低时，情况相对简单，应用前向散射或倒 分产生后向散射，后向散射部分沿 一z方 向产生散 向散射可 以获得 比较满意的结果l1·，。但浓度 比 射衰减，出射样品池的光被探测器接收。如果颗粒 较高时，由于复散射的影响，加上消光作用很强，前 浓度比较低，即处于不相关单散射范围内，这个过程 向散射和侧 向散射就不太适合了。同时，如果应用 不难处理 ，应用Mie散射理论可以解l决。但是当浓 前向小角散射测量高浓度颗粒系时，为了减小光学 度 比较高的情况下，就应该考虑复散射带来的影响， 厚度，需要设计采样系统 ，这就增加了系统复杂性。 同时由于透镜接收孔径会影响接收的光能量[。所 实验 中我们发现，高浓度情况下．后向散射的光信号 以还应该考虑这个因素。 已经比较强，可以比较容易地接收。这就有必要研 处理上，由于 目一I．ambert定律具有形式上 究后向散射的光信号与颗粒浓度及颗粒大小的关 比较简单、容易处理的优点，在工程上得到广泛应 系。从现有的研究成果和做出的仪器看，基于严格 用。但 由于上述两个因素的影响，我们器要对Beer 理论计算的比较少，更多的是采用标定的方法。 — Lambert定律中的消光系数进行修正L4,5]。 本文基于Beer—Lamber：定律、Mie散射理论 在不考虑孔径和复散射情况下，我们定义传递 和复散射理论．提出消光 一散射衰减的方法对高浓 函数为 ’ 度颗粒系进行研究，并对这种方法给出了理论计算 T=f／J0=exp(一r) (1) 结果 。 式中 r=N， ；Ⅳ为颗粒系数量浓度；为光在 颗粒系中通过长度； 为颗粒平均消光截面，它定