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A级太阳模拟器的光谱校正.pdf

第29卷第11期 V01.29.No.1l 2008年11J】 Nov..2008 A级太阳模拟器的光谱校正 彭小静,徐林,郭 泽 (上海交通大学物理系太阳能研究所,上海200240) 摘要:提出一种太阳模拟器光谱校正滤光膜的设计方法:通常的太阳模拟器利用高压脉冲氙灯模拟太阳光,但脉冲氙 灯的线谱较强。该文用Macleod薄膜设计软件对所需膜系进行理论设计与分析,给出理想膜系的理论滤光结果,并进行实 际镀制,用八棱柱管代替圆柱管做基片以降低成本,实测结果表明模拟效果很好,达到A级太阳模拟器标准。 关键词:太阳模拟器;AMl.5;膜系设计;基片 中图分类号:TK51 文献标识码:A 71一 竺翌!盈!! f4) O 引 言 ”7 1一(珈B+C)(r/oB+C)。 为了统一衡量地面太阳电池的性能,美国和欧 1.2优化设计方法 洲提出了地面用太阳电池测试的阳光辐照度标准 通常膜系优化设计采用综合法[31优化任意初始 AMl.5。由于户外环境多变,为了准确测量地面太膜系的层数,直到基本满足给定指标。适合于综合 阳电池,就需要人工模拟AMl.5标准太阳光谱辐照 度。目前太阳模拟器中的光源大多采用高压脉冲氙 法‘5|、基于整体退火遗传算法哺]、基因算法等。然 灯,但此光源的光谱与AMl.5标准太阳光谱差距很后,再采用通用的数字优化方法,如黄金分割法、正 大,主要表现为:脉冲光源的光谱线谱太强。这对太 切法、共轭梯度法、BFGS法、阻尼最dx--乘法等,来 阳电池的测试结果有很大影响。本文利用薄膜光学 进一步寻优。 理论设计滤光膜对光源光谱进行校正。、 2设计膜系 1膜系设计理论与方法 2.1原始光谱数据 1.1基本理论n1 图1是AMl.5标准太阳光谱㈦和实测高压脉冲 考虑一般膜层系统,假定该膜层系统的入射介 氙灯光谱(测量仪器是海洋光学HR2000光谱仪)。 l 质与出射介质都是无吸收的,于是这个膜层系统的 0 干涉矩阵可表示为: O O O ∥ V啊厂、八 (纠,虱矗;,弘警7眦+。)㈩ O 髓联茛罂 O 其中位相厚度为: O O 澍 (2) O 否,=等沁以c鸺舀,=孥(巩一业,)4cos舀, O 于是一般膜层系统的反射率为: 波长/nm

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