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绝缘材料 2009，42(1) 牛颖等：溶剂对聚酰亚胺／二氧化硅纳米杂化薄膜微观形貌影响 47 溶剂对聚酰亚胺／二氧化硅纳米杂化 薄膜微观形貌影响 牛 颖1冯可涵l，张明艳2 (1．大庆医学高等专科学校，黑龙江大庆163312； 2．哈尔滨理工大学材料科学与工程学院。哈尔滨 150040) 摘要：以N，N一二甲基乙酰胺(DMAc)，DMAc／二甲苯为溶剂，采用溶胶一凝胶法制备了溶剂不同的两种 聚酰亚胺／Z氧化硅(PI／Si02)杂化薄膜，并采用傅立叶变换红外光谱、扫描电子显微镜、原子力显微镜表征了 PI／SiO：纳米杂化薄膜的化学结构和微观形貌。研究结果表明：本实验工艺路线能成功制备出PI／SiO：纳米级 杂化薄膜；与用DMAc溶剂相比，采用DMAc／--甲苯为溶剂时，团聚的SiO：粒子变少，粒子粒径变小，粒径分 布变广。两相界面变模糊。 关键词：聚酰亚胺；二氧化硅；溶剂；微观形貌 中图分类号：TM215．3；TQ323．7文献标志码：A 文章编号：1009—9239(2009)01—0047—04 InfluenceofSolventonMicroscopic Morphologies ofPI／Si0 Films 2Nano．hybrid NIU Yin91，FENGKe-hanl，ZHANGMing—yan2 Medical MaterialScience (1．DaqingCollege，Daqing163312。China；2．Schoolof Scienceand 150040，China) Engineering．HarbinUniversityof Technology。Harbin Abstract：Twokindsof filmswere throughsol-gel polyimide／silica(PI／SiODnano·hybrid prepared route benzeneassolvent usingN，N-dimethylacetamide(DMAc)andDMAc／dimethyl separately．The chemicalstructureand of filmswere characterized microscopic PI／Si02 by morphologies respectively Fouriertransforminfrared electronic atomic spectroscope(FTIR)，scanningmicroscope(SEM)and that filmscanbe force resultsindicatePI／Si02 microscope(AFM)．The nano·hybrid preparedby this route withDMAc，when