X射线衍射法测定MoO3在γ-Al2O3表面的最大单层分散量.pdfVIP

维普资讯 第 39卷第9期 理化检验一物理分册 VoL 39 No．9 2003年 9月 PTCA (PART A：PHYSICALTESTING) Sep．2003 X射线衍射法测定 MoO3在 Al2o3表面的 最大单层分散量 储 刚。黄 玮，由宏君 (辽宁石油化工大学分析测试研究中心，抚顺 ll3001) 摘 要：对MoO3在 Al2o3表面的分散进行了测定。晶相 MoO3与载体 Y-AI203充分混合 后 ，在低于MoOs熔点的适 当温度下培烧 。当MoOs的含量低于某一数值时，MoO3晶相的X射线 衍射峰完全消失，MoO3的含量高于该数值时，晶相峰并不消失，但强度减弱。用X射线衍射可测 定培烧后的残余晶相量，进而可得到MoOs在 7Alzo3表面的最大分散