X射线衍射线形宽化时点阵参数精确测定的解卷积法.pdfVIP

维普资讯 第 38卷第 6期 理化检验一物理分册 Vo1．38 No．6 2002年 6月 PTCA (PART A ：PHYSICALTESTING) Jun．2002 X射线衍射线形宽化时点阵参数 精确测定 的解卷积法 梁志德，田 鹏 刘 刚 (东北大学，沈 阳 110004) (中科院金属研究所，沈阳 110015) 摘 要：证 明了在 X射线衍射线形分析 中如以标样衍射线形 g()的k。峰位为坐标原点O解 卷 ，则解得的宽化函数 f(x)的峰位恰与试样相应衍射线 中k。的位置相 同。据此，提 出一解卷积 法。方法是在解卷后将标样的已准确测知k。峰位的Bragg角 2 值加上 厂(-z)的峰位值即得出试 样相应衍射线形中k。的准确Bragg角2 。从而算得试样 的精确点阵参数 。 关键词：x射线衍射；线形分析；点阵参数；解卷积法 中图分类号：O712 文献标识码：B 文章编号：1001—4O12(2002)060249—02 PRECISION MEASUREMENT OFCRYSTAL LATTICE PARAMETERSW ITH BROADENED X—RAY DIFFRACTION LINE PROFILE ACCORDING TO THE DECONVOLUTION METHOD LIANG Zhi-de，TIAN Peng (NortheasternUniversity，Shenyang110004，China) LIU Gang (InstituteofMetalResearch，ChineseAcademyofScience，Shenyang110015，China) Abstract：IthasprovedthatinX-raydiffractionlineprofileanalysisifdeconvolutionisconductedwiththekl peakpositionofthestandardsamplelineprofileg(z)asthecoordinateorigin O thetop positionoftheobtained broadeningfunction／(z)isjustcoincidentwiththeklpeakpositionofcorrespondingbroadenedlineprofileofthe analysedsma ple^(z)．Accordinglyadeconvolutionmethodisdescribed，whereintheaccuratek Braggangle2 ofabroadenedlineofthemeasuredsma pleisgotbyaddingthetoppo sitionvalueofsolved (z)tOtheaccurately measuredkolbraggangle2 ofcorrespo nding lineofthestandardsma pleafterdeconvolutioru Thentheprecision latticeparametersofthemeasuredsamplemaybecalculated． Keywords：X-raydiffraction；Lineprofileanalysis；Latticeparameters；Deconvolutionmethod 在金属材料研究中，点阵参数的精确测定是常