基于测试片段间转移的低功耗BSIT实现鼍.pdfVIP

No．2 微 处 理 机 第2期 Apr．．2OO7 MICROPROCESS0RS 2007年4月 基于测试片段间转移的低功耗 BIST实现鼍 杨 婷 ，邝继顺 (湖南大学计算机与通信学院，长沙410082) 摘 要：随机测试向量产生时，一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。 文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构，该结构采用有效测试向量片段间转移的 方式，除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量，并把有效测试向量片段以消耗功耗 最小原则依次送入被测电路，减少了测试时间，在硬件代价不高的基础上有效降低 了测试功耗。 关键词：内建 自测试；测试向量片断；低功耗测试 中图分类号：TP302 文献标识码：A 文章编号：1002—2279(2007)02—0008—03 A ImplementofLow PowerBISTBasedonTestSegmentTransformation YANGTing，KUANGJi—shun (SchoolofComputerandCommunication，HunanUniversity，Changsha410082，China) Abstract：Inrandom testingenvironment，asignificantamountofenergyiswastedintheLFSRnad intheCUTbyuselesspatternsthatdonotcontributetofaultdropping．Thispaperproposesalowpower BISTstructurebasedontestsegmenttransformation．Thisstrucutreusesawayofeffectivetestsemg ent trna sformation，eliminateineglcacytestvectorsgeneratedbyrnadom algorihtm thathavenocontribution tofaultcoveragenadesndtheeffectivetestsegmentstothecircuitundertestwiht aprincipleofconsu— uringhtelowestpower．Th isstructuredecreasestesttimeandreducestestpowerwithalowhardwarecost． Keywords：Build—in—selftest；Testsemg ent；L0w—powertest 深亚微米技术的出现使得最小化测试时的功耗 1 引 言 成为设计 BIST的一个重要 目标。到目前为止，已经 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中 有一系列的相关工作，包括：设计低功耗TPGj【J，低 越来越广泛的使用，可测性设计 (DFT)的功耗问题 跳变的随机测试向量产生器 J，测试调度 ，分布 引起了VLSI设计者越来越多的关注。这是因为在 式BIST6【J。对于确定型测试，也存在一系列的研 测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式 ，必 究，包括通过扫描链重排序和测试向量重排序 以 将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问 及测试压缩来达到减少功耗的目的 J。 题。随着集成电路的发展，内建 自测试 (BIST)已成 该结构通过分析LFSR产生的随机测试向量中 为DFT的一种重要设计方法。 有效部分的分布规律，采用有效测试向量片段间转 在BIST中