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2015-09-03 发布于安徽
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基于安全控制边界单元IP核测试封装方法.pdf

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第3A期电子学报 v01．39No．3A 加11年3月 ACI．A呦RONlCASINICA N缸．20ll 基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法俞洋，向刚，乔立岩 (哈尔滨工业大学自动化测试与控制系，黑龙江哈尔滨150001) 摘要：为了解决测试信息传递的问题，IEEE组织推出了1EEEl5001P(IrIteilectual Property)核测试封装标准以标准化口核测试接口．然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患．本文提出了一种基于安全控制边界单元的m核测试封装方法．这种方法的核心思想是在典型的测试封装边界单元的基础上添加一 MetalOxide 个CluOS(ComplementarySemiconductor)传输门，有效消除了测试过程中扫描移位对被测口核电路的影响．实验结果表明，这种基于安全控制边界单元的测试封装能够在完成测试任务的同时，有效降低m核输入端口的测试数据数据跳变次数，使口核处于安全状态，还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗．关键词：系统芯片；IEEE1500标准；测试封装；传输门中图分类号：TP391．76文献标识码： A 文章编号：0372-2112(2011)3A-099-05 Test forEmbeddedI PCores SecureWrapperDesign YU Yang，XIANGGang，QIAOLi—yah 150001，Odna) (A弘删ofAutamat／eTeaandConud，／-／arb／n，埘眈蹴矿Tedmo／ogy，／／arb／n，醌渤n罟徊w the AI筠昀d：TheIEEE1500standardwas tostandardize testinlelfact：tOllallsfct r,rolx，sed IP(1raellecmalRDp呻)COle testinformation．Butthe IEEE test wouldleadIPcores status s∞n typical1500-compliantwrapper into觚insecureduringsbi蜘_ng． This aseO．1letest forembeddedIP inserted MetalOx- cores，which a paperIxesemed wrapperdesign only CMOS(Complememary tothetest cell eliminatethe IP showthat ide to effectto co螂．Experiments Semieolldue储)缸an鲫nb咖gatewraooer lxl戈．．arious the test not takeslessareaoverheadandtime also伽testthedata andreducethedatatransi—