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第52卷第3期 电测与仪表 VoI．52NO．3 2015年2月lO日 El烈血划Nk翻卿肾咖t五塔h卫men切越on F曲．10。2015 一种不受CT饱和影响的非同步故障测距新方法木 黄燕，周皓东，刘炜 (江西省科学院高科技开发中心，南昌330029) 摘要：双端量法故障测距中通常会采用双端电压和电流数据，其中电流量容易受CT饱和影响而影响测距的准 确性。为了消除该影响，文章提出一种不需要采用电流量计算的故障测距新方法。新方法仅需用电压量计算， 在原理上不受CT饱和影响。采用序分量法构造了关于故障距离的方程，在原理上消去了非同步角，不需要双 端数据同步。仿真计算表明提出的新方法具有较高的测距精度，不易受非同步角和过渡电阻的影响，具有良好 的工程应用价值。 关键词：cT饱和影响；非同步；故障测距；序分量 中图分类号：TM77 文献标识码：B f．allltl啷ti0咀method稍thouttIIee仃ect