百学仪器论文资料库-X射线荧光光谱分析中的基本参数法.pdfVIP

I塑苎堡垒垫生 x射线荧光光谱分析中的基本参数法 陶光仪 (中科院上海硅酸盐研究所，上海200050) FUNDAMENTALPARAMETERM=ETHODINX—RAY FLUoRESCENCEANAI，YSIS TAO Guang-yi Institute 200050，China) Ceramics，Chinese (Shan胂ai of AcademyofSciences，Shanghai 中图分类号：0657．34 文献标识码：A 文章编号2005)增刊一0001-02 1968年美国分析化学杂志(Anai．Chem．)第40各组分的浓度。原则上它只需要纯元素标样或一个 卷上连续发表了美国海军研究实验室科学家的两篇 多元标样。 重要文章，第一篇首次测定了波长色散x射线荧光 基本参数法提出后的初期，由于其计算量很大， 光谱仪用X光管原级谱的强度分布，第二篇则首次 无法用于常规的联机分析。随着计算机技术突飞猛 提出了x射线荧光(xRFs)光谱定量分析中用于元进的发展，特别是20世纪80年代初PC机的引入， 使得原来需在大型计算机上运行的软件完全可在与 素间吸收-N强效应数学校正的基本参数法(Funda— mental Parameters Method)。 XRF谱仪相联的PC机上运行。加上近30年来强 众所周知，鉴于元素间吸【盱增强效应的严重存 度和浓度理论公式的不断完善，x光管原级谱强度 在，待分析元素测得的x射线荧光强度与其浓度常 分布的计算和基本参数准确度的不断改进，以及数 常不呈线性关系。从20世纪50年代末起，不少学学校正方法的不断完善，使基本参数法的应用有了 长足的进步。 者开始使用所谓的“经验影响系数法”(Empirical InfluenceCoefficient Method)进行数学校正。即用 与此同时发展起来的理论影响系数法(Theo— Coefficient 一组标样和一个经验校正公式，通过回归技术(多变 reticalInfluence Method)又称理论a系 量的最小二乘拟合)计算共存元素对待测元素的经 数法(广义而亩也可归人基本参数法的范畴)，其理 验影响系数。在随后的30年内先后提出的经验校 论影响系数是通过强度和浓度理论公式计算得来， 正公式不下50余种。 它用少量标样作校正后，即可以简单的迭代求解未 随着元素间吸收一增强效应数学校正研究的向 知样的浓度，因此从20世纪70年代起逐渐取代经 前发展，经验影响系数法固有的短处逐渐显现。例 验影响系数法而愈来愈广泛地应用于常规分析。 如它计算出来的系数常常毫无物理意义(因为仅仅 而与理论a系数法相比，基本参数法的优势 是数学上的拟合)；迭代求解未知样浓度时常发生不 在于： 收敛；校正后强度与浓度曲线的斜率有时为负值；以 (1)校正的浓度范围更宽(特别是与仅用一个 及计算系数所需标样数量较大(一般为所需计算系 理论a系数相比)； 数的三倍)等。 (2)所需标样数更少； 基本参数法则是与经验影响系数法概念完全不 (3)可以使用非相似标样。例如，分析金属样 同的校正