基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计.pdf

第22卷第1期 电波科学学报 V01．22。NO．1 2007年2月 CHINESEJOURNALOFRADIOSCIENCE February，2007 文章编号 1005-0388(2007)01—0069—05 基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计 雷 震 蒋全兴 (东南大学机械工程系电磁兼容研究所，afa0001@tom．com，江苏南京210096) 摘 要 提出了一种新的基于遗传算法的宽带电磁干扰(EMI)衬垫转移阻抗(TI)测 试装置优化设计方法，获得了宽频带(O～2GHz)下的等效电路。以测试装置结构所 决定的分布参数(L、C。、c：)为优化对象，以输入阻抗为优化目标，建立了衬垫测试系 统的目标函数；优化前后输入阻抗理论值比较表明：采用优化的测试装置进行测试， 输入阻抗误差显著减小，并且这一结论在通常意义下都有效。 关键词 衬垫转移阻抗，电路模型，遗传算法，多目标优化 中图分类号TB973 文献标识码A oftransfer device Optimizationdesign impedancetesting LEIZhen JIANG Quan-xing Institute Mechanical (ResearchofEMC，Departmentof Engineering， Southeast 210096，China) University，afa0001@(，Ⅲ．60171，NanjingJiangsu AbstractAnovelbroadbandtransfer device based impedance(TI)testingdesign onthe and circuitofbroadband(0～ geneticalgorithm(GA)ispresentedequivalent 2 distribution GHz)isobtained．Taken parameters(L、Cl、C2)determinedbytesting devicedimensionasthe and asthe optimized parameters inputimpedanceobjectop— function device timized，theective of is obj testing constructed．Bycomparinginput valuesbeforeandafter isshowedthattheerrorof impedance optimization，it input decreaseswhen