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用于红外晶体双折射测量的单14波片法.pdf
第20卷第lo期 光学精密工程 V01．20No．10
andPrecision
2012年10月 Optics Engineering oct．2012
文章编号 1004—924X(2012)10—2176～08
用于红外晶体双折射测量的单1／4波片法
唐玉国1，何 淼1’弘，崔继承1’2，巴音贺希格1，陈少杰1’2
(1．中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长春130033；
2．中国科学院大学，北京100039)
摘要：提出了一种基于单1／4波片法的测量方法以实现红外波段光学晶体双折射光程差的精确测量。采用厚度差小于
一个周期厚度的两个样品进行比对，有效克服了单1／4波片法测量厚度的限制。依照此原理研制了测试波长为3．39
“m的晶体双折射测试设备。应用琼斯矩阵理论，推导了存在主要误差因素时的信号光强解析表达式，并由此分析了起
偏器方位角误差、1／4波片定位精度、样品方位角偏差、检偏器旋转定位精度对测量结果的影响，综合评价了本测量方法
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的精度。实验结果表明，应用研制的设备实测标准1／4波片的双折射光程差误差为0．003t*m，相对误差为0．44％，
满足系统要求。得到的结果表明，采用基于单1／4波片法的新测量方法能够有效、精确测得红外晶体的双折射光程差。
关键词：红外晶体；双折射测量；单1／4波片法；精度分析
中图分类号：0734．2；0436．3文献标识码：A doi：10．3788／OPE2176
for
Senamontbased method
measuring
ofinfrared
birefringencecrystal
TANG Mia01孙，CUI
Yu—gu01，HE Ji—chen91～，Bayanheshi91，CHENShao—jiel’2
and
Institute Mechanics
(1．ChangchunofOptics，Fine Physics，
Chinese 130033，China；
AcademySciences，Changchun
of
Chinese 100039，China)
2．Universityof AcademYofSciences，Beijing
*C。rrespD稚矗￡豫gauthor，E-mail：helen．he@yahoo．corn．cn
methodbasedontheSenamontmethodwas to measurethebirefrin
Abstract：A proposedprecisely
ofaninfrared withthe Pass 1 wave—
gence crystal．Twospeci
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