基于优化K-D树的大面积高密度PCB快速AOI.pdfVIP

VoL 第32卷第4期 仪 器仪 表 学 报 32No．4 2011年4月 ChineseJournalofScientificInstrument Apr．2011 蒲 亮，叶玉堂，宋昀岑，刘 莉，陈东明，潘 明 (电子科技大学光电信息学院成都610054) 摘要：传统的AOI孔搜索算法是基于顺序的查询方法，其局限在于，随着孔数，v的增加，其查询时间以0(Ⅳ2)急剧恶化，严 重影响了大面积高密度PCB的检测效率。提出一种基于优化K．D树的AOI系统查询算法，该方法在建立树和进行完整查询时 的效率均为O(MosS)。实验表明，这种方法查询效率明显高于顺序查询法，对含有大量孔的PCB仍然有较短的查询时问，因而 可以较大幅度地提高AOI的检测效率，在需要点位置查询的仪器领域也有广泛的应用前景。 关键词：自动光学检测；K-D树；印制电路板 中图分类号：TlP391．4文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．4099 for and on K·-Dtree FastAOI area PCBbased large high--density optimized Pu Yuncen，LiuLi，ChenDongming，PanMing Hang，YeYutang，Song Scienceand Electronic (SchootofOpto-ElectronicInformation，Universityof TechnologyofChina， 610054，China) Chengdu asthe for theholesonPCBisbasedon method．But Abstract：Traditionalsearching sequentialquery algorithm numberof deteriorationof is to holes(N)increases，asharp querytime，whichproportional detection for PCBis affected．Asearch ofAOI basedon efficiency area，high—densityseriously algorithmsystem large K—Dtreeis timeforthemethodtobuildthetreeand thewholesearch optimized proposed．Therequired up perform is to resultsshowthatthismethodstillconsumesashort proportional0(NlogN)Oilcontrast．Experimental