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ISE使用方法,ise14.7使用教程,ise使用教程,xilinxise使用教程,ise14.2使用教程,ise14使用教程,ise14.4使用教程,ise使用,ise14.6使用教程,ise使用指南
附录
附录1:利用ISE对器件仿真时的步骤:
1.在ISE中建立一个新的项目
首先进入ISE TCAD运行的Linux操作环境,进入操作界面按照以下顺序进行创建新目录,Project →New → New Project。
在工作主界面的Family Tree目录下的No Tools边框上面,右键Add →Add Tool →Tools →MDraw →OK,在Create Default Experime边框选定OK ,
之后再在MDraw 工作框上右键Add →Add Tool →Tools →Dessis →OK,在Add Tool边框上点击确定After Last Tool →Apply →Tools →Inspect →OK。
这样,工作界面Family Tree目录下就有MDraw、Dessis、Inspect这三个工具组了。之后进行保存Project →Save As →输入工作名称 →OK就可以了,或者也可以直接点击保存的快捷图标进行保存。
2.建立器件网格
利用Mdraw模块建立SiC MESFET器件结构模型,包括器件的边界、掺杂、网格的划分和关键区域的加密;
首先要进行MDraw的绘制器件工作,右键MDraw →Edit Input →Boundary 进入MDraw的绘制器件结构工作区。
在MDraw绘制过程中,可以徒手绘制,这是默认模式的绘制方式。然而在大多数情况下,需要按照器件尺寸精确绘制,这时可以从Performance Area中点击Exact Coordinates选择精确坐标绘制。
接下来要选择器件的制作材料,打开Materials菜单,选择MESFET器件材料SiC。
绘制器件结构图时,选择Exact Coordinates,点击Add Rectangle增加矩形框,输入预先设计的各点坐标,设定器件各个结构的尺寸大小。
器件结构绘制完成后,需要在源、漏的欧姆金属和SiC接触面上添加欧姆接触层,另外栅的肖特基金属和SiC接触面上需要添加肖特基接触层,衬底和衬底合金界面同样需要添加接触层,这样仿真出来的结果才能更加符合实际情况。首先Add Contact,命名接触,然后点击Set/Unset Contact在器件表面添加接触。
接触设定以后,进行文件保存。器件Boundary的保存文件扩展名为 *.bnd。要保存边界文件,打开File →Save As。
下一步进行脚本文件保存,File →Save Scrip File。脚本文件全称为:工作文件名如SiC-MESFET /mdraw_mdr.tcl。
3 器件掺杂
进行区域掺杂,运行环境由Boundary切换到Doping
掺杂参数:
n+源、漏区:Nd 2×1019cm-3;
n-Channel ;Nd =1.7×1017cm-3;
P-epi :NA =1.4×1015cm-3;
n-Substrate :Nd =1×1017cm-3
掺杂确定以后,点击Build Mesh显示掺杂后的网格
细化网格:把原始网格划分成为更小的网格,网格划分的越小在器件仿真时更加接近器件真实情况
器件的主要工作部分是源、漏区和沟道层,有必要对沟道的网格进一步进行细化,以便进行仿真时,能得到更好的结果。
进行掺杂和网格的保存
.Dessis文件建立
在Family Tree中建立Dessis工具。
如图1所示,右击Family Tree中MDraw工具,在下拉菜单Add中选择Dessis工具加入Family Tree中。
在dessis_des.cmd文件中编辑SiC MESFET器件的仿真程序。
如图2和图3所示,右击Family Tree中Dessis工具,点击下拉菜单Edit Inputs中的commands,跳出dessis_des.cmd文件框,即可在此文件中编辑仿真程序。
.Inspect文件建立
1)在Family Tree中建立Inspect。
如图4和图5所示,右击Family Tree中Dessis工具,在下拉菜单Add中选择Inspect工具加入Family Tree中。
2)在inspect_ins.cmd文件中编辑SiC MESFET器件仿真结果及参数提取的程序。
如图6和图7所示,右击Family Tree中Inspect工具,点击下拉菜单Edit Inputs中的commands,跳出inspect_ins.cmd文件框,即可在此文件中编辑仿真结果及参数提取程序。
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