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红外探测器非均匀性校正系统研制.pdf

第42 卷第7 期 红外与激光工程 2013 年7 月 Vol.42 No.7 Infrared and Laser Engineering Jul.2013 红外探测器非均匀性校正系统研制 1,2 1 1 1 3 朱瑞飞 ,王 超 ,魏 群 ,贾宏光 ,周文明 (1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033 ; 2. 中国科学院大学,北 100049 ;3. 余姚市质量技术监督局,浙江 余姚 315400) 摘 要 分析了红外焦平面阵列(IRFPA)基于定标的非均匀性校正算法和基于场景的非均匀性校正 算法的优势和不足。针对红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型这一特点,提出了一种基 于“S”曲线拟合的校正算法。利用FLIR 公司的长波非制冷红外探测器进行信号采集,建立了焦平面 探测元的响应模型。描述了基于 FLIR 长波非制冷红外探测器在 FPGA 平台的处理流程,并实现了 “S”曲线校正算法,提高了红外图像的质量。实验表明,经过“S”曲线拟合校正处理,减弱了红外图像 的条纹噪声,使 IRFPA 组件的非均匀性从 6.45%降低至2.06%。 ; 关键词 红外焦平面阵列 非均匀性校正; “S”曲线拟合; FPGA 中图分类号 TN215 文献标志码 A 文章编号 1007-2276(2013) 07-1669-05 Manufacture of nonuniformity correction system for infrared detector 1,2 1 1 1 3 Zhu Ruifei , Wang Chao , Wei Qun , J ia Hongguang , Zhou Wenming (1. Changchun Institute of Optics , Fine Mechanics and Physics , Chinese Academy of Sciences , Changchun 130033, China; 2. University of Chinese Academy of Sciences , Beijing 100049, China; 3. Yuyao Bureau of Quality and Technical Supervision, Yuyao 315400 , China) Abstract: The advantages and disadvantages in nonu niformity correction (NUC) algorithms based on calibration and scene of infrared focal plane arrays (IRFPA) were analyzed separately . Firstly , according to the binary nonlinear nonuniformity theory model of IRFPA , a novel nonuniformity c

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