光致发光技术在Si基太阳电池缺陷检测中的应用.pdfVIP

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2015-09-20 发布于重庆
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光致发光技术在Si基太阳电池缺陷检测中的应用.pdf

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技术专栏 Technology Column doi :103969/ j issn1003353x201005010 光致发光技术在 Si 基太阳电池缺陷检测中的应用 1 2 ,3 1 ,3 2 ,3 2 4 严婷婷 , 张光春 , 李果华 , 汪义川 , 陈如龙 , 李波 ( 1 江南大学理学院 , 江苏无锡 2 14 122 ; 2 尚德电力控股有限公司 , 江苏无锡 2 14028 ; 3 江苏省 ( 尚德) 光伏技术研究院 , 江苏无锡 2 14028 ; 43i 系统有限公司 , 广东肇庆 526020) 摘要 : 太阳电池的缺陷往往限制了其光电转化效率和使用寿命。利用光致发光原理获取晶体 Si 太阳电池的荧光照片 , 用以诊断其缺陷。外界的光能在 Si 中被吸收 , 产生非平衡少数载流子 , 而一部分载流子的复合是以发光形式来完成的。发出的光子可以被灵敏的 CCD 相机获得 , 得到太阳电池的辐射复合分布图像。这种光强分布反映出非平衡少数载流子的数目分布 , 裂痕和缺陷处表现为较低的光致发光强度。这里关注的是单晶 Si 太阳电池的检验。在室温条件下电池的裂痕和缺陷可以快速予以检测 , 验证了 “光致发光效应 ”有潜力成为流水线式检测产品的手段。　　关键词 : 晶体硅太阳电池 ; 光致发光 ; 缺陷; 检测中图分类号 : O439 　　文献标识码 : A 　　文章编号 : 1003353X (2010) Application of Photoluminescence for the Testing of Defects in Crystalline Silicon Based Solar Cells 1 2 ,3 1 ,3 2 ,3 2 4 Yan Tingting , Zhang Guangchun , Li Guohua , Wang Yichuan , Chen Rulong , Li Bo ( 1School of Science , J iangnan University , Wuxi 214122 , China ; 2S untech Power Holdings Co. , L td. , Wuxi ( ) 214028 , China ; 3J iangsu S untech Institute f or Photovoltaic Technology , Wuxi 214028 , China ; 43 i System Corp oration , Zhaoqing 526020 , China) Abstract : Typical solar cells often have defects which limits the conversion efficiency or lifetime . A te