10.1各向异性磁电阻测量.docVIP

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10.1 各向异性磁电阻测量 实验目的 (1)初步了解磁性合金的AMR,多层膜的GMR,掺碱土金属稀土锰氧化物的CMR。 (2)初步掌握室温磁电阻的测量方法。 实验原理 1.各向异性磁电阻 一些磁性金属和合金的AMR与技术磁化相对应,即与从退磁状态到趋于磁饱和的过程相应的电阻变化。外加磁场方向与电流方向的夹角不同,饱和磁化时电阻率不一样,即有各向异性。通常取外磁场方向与电流方向平行和垂直两种情况测量AMR。即有Δρ∥=ρ∥-ρ(0)及Δρ⊥=ρ⊥-ρ(0)。若退磁状态下磁畴是各向同性分布的,畴壁散射变化对磁电阻的贡献较小,将之忽略,则ρ(0)与平均值ρav=1/3(ρ∥+2ρ⊥)相等。大多数材料ρ∥>ρ(0),故 AMR常定义为 如果ρ0≠ρav,则说明该样品在退磁状态下有磁畴织构,即磁畴分布非完全各向同性。图12.1-3是曾用作磁盘读出磁头和磁场传感器材料的Ni81Fe19的磁电阻曲线,很明显,,各向异性明显。图中的双峰是材料的磁滞引起的。图12.1-4是一些铁磁金属与合金薄膜的各向异性磁电阻曲线。 实验仪器 亥姆霍兹线圈、电磁铁、特斯拉计、毫特斯拉计、大功率恒流电源、大功率扫描电源、精密恒流源、数字微伏表、双路ADC数据采集卡及软件,计算机,四探针样品夹具。 实验内容 A.方法 1.将样品切成窄条,这在测AMR时是必需的。对磁性合金薄膜,饱和磁化时,样品电阻率有如下关系: 其中θ是磁场方向与电流方向的夹角。 为保证电流有一确定方向,常用的方法是:(1)将样品刻成细线,使薄膜样品的宽度远远小于长度。(2)用平行电极,当电极间距远小于电极长度时,忽略电极端效应,认为两电极间的电流线是平行的。 2.用非共线四探针法测电阻值,如图12.1-10所示。这种方法当数字微伏表内阻很大时,可以忽略探针接触电阻的影响,已在半导体、铁氧体、超导体等的电测量中广泛使用。 B.测量 1.测量Fe-Ni薄膜的AMR a.将大功率恒流源与亥姆霍兹线圈连接。 b.将样品装上四探针夹具,并作如图12.1-9所示连接。 c.将装好样品的夹具固定在亥姆霍兹线圈中心,并确保电流方向与磁场方向平行。 d.将毫特斯拉计探头固定在样品附近。 e.确保所有仪器调整旋钮均在输出为零位置,启动所有测量仪器,预热5~15分钟,并作校准。 f.调整精密恒流源输出,使测量电流(流过样品的电流)为1~100mA范围内的某个确定电流,具体大小视样品情况与测量仪表精度决定。 g.调节大功率恒流源输出电流,从零开始,逐点增大,以改变磁场大小,逐点记录大功率恒流源输出电流值、毫特斯拉计显示的磁场大小、数字微伏表显示的电压值。注意开始时磁场变化的步距要小。 h.当磁场继续增大,微伏表显示电压值基本不变时,将大功率恒流源输出电流逐点减小,仍作上述记录。 i.当大功率恒流源输出电流降到零时,将输出极性反向。 j.再重复g、h两步测量、记录。 k.将样品夹具转90°固定好,确保电流方向与磁场方向垂直,再重复e-j步测量、记录。 1.关闭所有仪器电源,将与亥姆霍兹线圈连接的恒流源换接成大功率扫描电源。将毫特斯拉计输出端与电脑X-Y记录仪的X输入端连接,将微伏表的放大输出端与电脑X-Y记录Y输入端连接,将电脑X-Y记录仪控制输出端与大功率扫描电源控制端连接。 m.启动所有仪器,预热5~15分钟后,在计算机上启动自动测量记录程序,自动测出磁电阻曲线,将样品夹具转90°再自动测出另一方向的磁电阻曲线。 n.将手动测量记录的数据,绘制R-H曲线(横坐标为磁场大小,纵坐标为电阻大小)。 o.计算出ρav,饱和磁化时间Δρ∥、Δρ⊥以及AMR。 数据及结果 根据测得的数据绘制R-H曲线。因为I=6A,根据数字电压表的读书U,即可计算R=UI,因此R∝U。 又H∝i,多疑R-H曲线亦可用U-i曲线表示,其中i是扫描电源的输出电流。 可得 λ*ρ0=7.357 λ*ρ∥=7.576 λ*ρ⊥=7.270 λ为常数。 可得 AMR==4.16% 思考题 1.测量AMR后计算出的ρav、ρ(0)是否相同,如不同说明什么问题? 答:不同,样品在退磁状态下具有磁畴结构,样品不完全具有各向同性。 4.测量中如何减小热效应对测量的影响? 答:1,减少测量时间。2,保持测量环境易于传递热量,保持样品温度稳定。 5.样品夹具采用材料有何要求? 答:材料不具有铁磁性,在外加磁场作用下,其磁性变化越小越好。

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