传感器原理与检测技术 教学课件 童敏明 第15章：抗干扰.pdf

第九章 抗干扰技术 第一节 干扰的类型 第二节 电磁干扰的产生 第三节 干扰信号的耦合方式 第四节 抗干扰技术 第五节 相关检测技术 引例:干扰的危害 学 习 要 求 1、了解干扰产生的原因和干扰源的种类； 2、了解干扰对系统作用的途径； 3、熟悉抗干扰的基本方法。 干扰（噪声）－－影响检测仪器和装置正常工作的各 种因素的总和。 抗干扰技术－－消除或削弱各种干扰影响的技术措施。 干扰源 产生干扰的三要素 干扰通道 被干扰对象 消除或削弱干扰源 抗干扰的基本原则 切断干扰通道 保护被干扰对象 第一节 干扰的类型 （按噪声产生的原因分类） 1.1 电和磁的干扰 电和磁可以通过电路和磁路对测量仪器产生干扰 作用，本章重点介绍抑制这种干扰的措施。 1.2 机械的干扰 由于机械的振动或冲击，使仪器或装置中的电气 元件或传感器发生振动、位移、松动等，造成检测的 误差。 抑制机械的干扰主要采取减振措施来解决，例如 采用减振弹簧、减振软垫、消振等措施。 1.3 热的干扰 设备和元器件在工作时产生的热量引起的温度波动 和环境温度的变化都会引起仪表和装置的传感器和电路 元器件参数发生变化，产生较大的测量误差。 热干扰的抑制方法有： 热屏蔽－－用导热性能好的金属材料做成的屏蔽罩 将温度敏感器件包围。 恒温法－－将敏感器件或装置置于恒温设备中。 对称平衡法－－采用差动电桥，利用两个温度特性 相同的器件相互抵销温度的影响。 温度补偿法－－采用温度敏感元件进行温度补偿。 1.4 光的干扰 在检测仪器中广泛使用着各种半导体元件，半导体 元件在光的作用下会改变其导电性能，产生电势或阻值 的变化，影响仪器的正常工作。 光干扰的抑制可以将敏感半导体元件置于不透光的 外壳内，对一些特定光的传感器，可采用光的滤镜，消 除干扰光的影响。 1.5 湿度的干扰 湿度过高会引起绝缘体的绝缘电阻下降，漏电流增 加，电介质的介电系数增加，电容量增加；吸潮后会使 线圈骨架膨胀，电感器变化；应变片粘贴的胶质变软， 精度下降。 防止湿度干扰的措施是避免仪器放在潮湿处；仪器 装置定时通电加热去潮；电子器件和印刷电路浸漆或用 环氧树脂封灌。 1.6 化学的干扰 酸、碱、盐等化学物品以及其他腐蚀性气体，除了 由于化学腐蚀作用损坏仪器设备和元器件外还会与金属 导体产生化学电动势，从而影响检测精度。 必须根据仪器的使用环境对仪器设备进行必要的防 腐处理，将关键的器件进行密封。 1.7 射线辐射的影响 核辐射能产生很强的电磁波，射线会气体电离，使 金属逸出电子，从而影响仪器的检测精度。 射线辐射的防护是一专门的技术，主要用于原子能 工业。 第二节 电磁干扰的产生 2.1 放电干扰 1 天体和天电干扰 天体干扰是由太阳或其他恒星辐射的电磁波所产生 的干扰；天电干扰是由雷电、大气的电离作用、火山 爆发或地震等自然现象所产生的电磁波和空间电位变化 引起的干扰。 2 电晕放电干扰 电晕放电干扰主要发生在超高压大功率输电线路和 变压器、大功率互感器、高压输变电等设备上。随着电 晕放电产生高频振荡，向周围辐射电磁波。其衰减特性 一般与距离的平方成反比。 3 火花放电干扰 电动机的电刷和整流子间的周期性的周期性瞬间放 电、电焊、电火花、加工机床、电气开关设备中的开关 通断、电气机床和电车导线与电刷间的放电等。 4 辉光、弧光放电干扰 通常放电管具有负阻抗特性，当和外电路连接时容 易引起高频振荡。 2.2 电气设备的干扰 1