4.4 光纤传感器.pptVIP

4.4.6 光纤传感器的应用 强度调制型： 基于弹性元件受压变形，将压力信号转换成位移信号来检测，故常用于位移的光纤检测技术； 相位调制型： 利用光纤本身作为敏感元件； 偏振调制型： 主要是利用晶体的光弹性效应。 光纤压力传感器 （一）温度的检测 光纤温度传感器有功能型和传光型两种。 1、遮光式光纤温度计 下图为一种简单的利用水银柱升降温度的光纤温度开关。可用于对设定温度的控制，温度设定值灵活可变 1 2 3 4 水银柱式光纤温度开关 1 浸液 2 自聚焦透镜 3 光纤 4 水银 下图为利用双金属热变形的遮光式光纤温度计。当温度升高时，双金属片的变形量增大，带动遮光板在垂直方向产生位移从而使输出光强发生变化。这种形式的光纤温度计能测量10℃～50℃的温度。检测精度约为0.5℃。它的缺点是输出光强受壳体振动的影响，且响应时间较长，一般需几分钟。 光源 接收 热双金属式光纤温度开关 1 2 1 遮光板 2 双金属片 （1）采用弹性元件的光纤压力传感器 膜片反射式光纤压力传感器示意图 在Y形光纤束前端放置一感压膜片，当膜片受压变形时，使光纤束与膜片间的距离发生变化，从而使输出光强受到调制。若利用Y形光纤束位移特性的线性区，则传感器的输出光功率亦与待测压力呈线性关系。这种传感器结构简单、体积小、使用方便，但如果光源不稳定或长期使用后膜片的反射率下降，影响其精度。 1 Y形光纤 2 壳体 3 膜片 （二）压力的检测 差动式膜片反射型光纤压力传感器 改进型的膜片反射式光纤压力传感器的结构如图(a),这里采用了特殊结构的光纤束，光纤束的一端分成三束,其中一束为输入光纤,两束为输出光纤。三束光纤在另一端结合成一束,并且在端面成同心环排列分布,如图(b)。其中最里面一圈为输出光纤束1,中间一圈为输入光纤束,外面一圈为输出光纤束2。当压差为零时，膜片不变形,反射到两束输出光纤的光强相等,即I1＝I2。当膜片受压变形后,使得处于里面一圈的光纤束,接收到的反射光强减小,而处于外面一圈的光纤束2接到的反射光强增大,形成差动输出。 （b）光弹性式光纤压力传感器 光弹性效应：晶体在受压后其折射率发生变化，从而呈现双折射现象。 1 光源 2、8 起偏器 3、9 1/4波长板 4、10 光弹性元件 5、11 检偏器 6 光纤 7 自聚焦透镜 光弹性式光纤压力传感器 2 在光弹性元件上加上质量块后，也可用于测量振动、加速度 （c）微弯式光纤压力传感 基于光纤的微弯效应，即由压力引起变形器产生位移，使光纤弯曲而调制光强度。 1 聚碳酸酯薄膜 2 可动变形板 3 固定变形板 4、5 光纤 微弯式光纤水听器探头 光纤被夹在一对锯齿板中间，当光纤不受力时，光线从光纤中穿过，没有能量损失。当锯齿板受外力作用而产生位移时，光纤则发生许多微弯，这时在纤芯中传输的光在微弯处有部分散射到包层中. (C) 微弯光纤压力传感器 微弯光纤压力传感器 D S F F 变形器 光纤 d θ1 θ n0 n2 n1 θ2 θ3 原来光束以大于临界角θC的角度 θ1在纤芯内传输为全反射；但在 微弯处θ2θ1，一部分光将逸出， 散射入包层中。当受力增加时，光 纤微弯的程度也增大，泄漏到包层 的散射光随之增加，纤芯输出的光 强度相应减小。因此，通过检测纤芯或包层的光功率，就能测得引起微弯的压力、声压，或检测由压力引起的位移等物理量。 （三）反射式光纤位移传感器 根据被测目标表面光反射至接收光纤束的光强度的变化来测量被测表面距离的变化。由于光纤有一定的数值孔径,当光纤探头端部紧贴被测件时,发射光纤中的光不能反射到接收光纤中去,接收光纤中无光信号;当被测表面逐渐远离光纤探头时,发射光纤照亮被测表面面积越来越大,于是相应的发射光锥和接收光锥重合面积B1越来越大,因而接收光纤端面上被照亮的B2区也越来越大,有一个线性增长的输出信号 位移-输出信号曲线 当整个接收光纤被全部照亮时,输出信号就达到了位移-输出信号曲线上的“光峰点”,光峰点以前的这段曲线叫前坡区;当被测表面继续远离时,由于被反射光照亮的B2面积大于C,即有部分反射光没有反射进接收光纤,还由于接收光纤更加远离被测表面,接收到的光强逐渐减小,光敏输出器的输出信号逐渐减弱,进入曲线的后坡区,如图所示。 在位移-输出曲线的前坡区,输出信号的强度增加得非常快,这一区域可以用来进行微米级的位移测量。在后坡区,信号的减弱约与探头和被测表面之间的距离平方成反比,可用于距离较远而灵敏度、线性度和精度要求不高的测量。在光峰区,信号达到最大值,其大小取决于被测表