低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证.pdfVIP

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2015-09-29 发布于湖北
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低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证.pdf

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低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证.pdf

高电压技术第36卷第9期2010年9月30日 2126 HighVoltageEngineering，V01．36，No．9，September30，2010 低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证张志劲，蒋兴良，孙才新，胡建林，苑吉河 (重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室，重庆400030) 摘要：为揭示低气压下染污绝缘子串闪络机理。并为低气压地区外绝缘选择和设计提供参考，在人工气候室模拟低气压条件，以7片串XP-160绝缘子为例，进行了不同低气压、污秽下绝缘子直流放电特性试验研究，并拍摄了其放电过程。试验结果表明：低气压下直流污闪放电过程中局部电弧存在飘弧现象，因此提出低气压下染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成；根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在10％以内；揭示了静电力和热浮力随气压变化规律的差异是低气压下局部电弧发展中飘弧现象更严重的主要原因。关键词：低气压；污秽；直流；绝缘子串}闪络过程；局部电弧，电路模型中图分类号：TM852 文献标志码：A 文章编号：1003—6520(2010)09-2126-06 PollutionFlashoverModeland of DC ItsValidationPollutedInsulator UnderLowAir Strings Pressure ZHANG Cai-xin。HU Zhi-jin，JIANGXing—liang，SUN Jian-lin，YUANji—he (State ofPowerTransmission andNew KeyLaboratory Equipment＆SystemSecurity Technology。 400030，China) ChongqingUniversity，Chongqing revealtheflashovermechanismof tOoffer Abstract：To insulatorand someconsultfortheexternal polluted strings insulationselectionand underlowair seriesoftests carriedOUtinthelowair design pressure。a were condi- pressure tionsimulatedartificialclimate 7 unitsofXP-160for researched by chamber．Taking examples。weexperimentally theDC ofinsulatoratdifferentlowair and inwhichthe dischargeperformance pressurepollutiondegree discharge some