SF6中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL闪络特性的影响.pdfVIP

第4l卷第5期：1481-1487 高电压技术 2015年5月31日 Engineering May31，2015 HighVoltage DOI：10．133360．1003—6520．hve．2015．05．009 SF6中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL 闪络特性的影响 张博雅1，一，王 强1，一，张贵新1’。，李金忠3 (1．清华大学电机工程与应用电子技术系，北京100084； 2．清华大学电力系统及发电设备安全控制和仿真国家重点试验室，北京100084； 3．中国电力科学研究院，北京100192) 摘要：随着中国特高压直流输电工程建设进程的逐渐加快，直流气体绝缘输电线路(GIL)的需求日益迫切，对 GIL在特高压直流下一些关键问题的研究显得至关重要。因此针对直流电压下GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚问 题展开研究，建立了一套基于静电探头法的表面电荷测量系统，研究了在SF。气体环境中，不同电压幅值和电压 极性反转情况下绝缘子表面电荷的积聚规律。同时，在特高压直流GIL试验单元上进行了直流闪络试验，研究了 绝缘子表面电荷积聚对直流闪络特性的影响。研究结果表明：在0．5MPa的SF6中，绝缘子表面主要积聚与所加 直流电压极性相反的电荷，这种电荷分布将增大绝缘子表面与中心电极间的局部场强，并将进一步导致绝缘子闪 络；GIL中盆式绝缘子的直流耐受电压仅为交流耐受电压的64％左右。该研究为GIL中盆式绝缘子在直流电压下 闪络电压下降提供了一种可能的解释。 关键词：表面电荷：绝缘子；SF6；气体绝缘；GIL；特高压直流；闪络；静电探头 Surface AccumulationonInsulatorsin andItsEffectsontheFlashover Charge SF6 CharacteristicsofHVDCGIL ZHANGWANG Guixinl’2LI Boyal’2 Qian91一．ZHANG Jinzhong’ ofElectrical ofControland (1．Department Engineering，TsinghuaUniversity,Beijing100084，China；2．StateLaboratory Key SimulationofPower andGeneration 1 System Equipment，TsinghuaUniversity,Beijing00084，China； 3．ChinaElectricPowerResearch Institute，Beijing100192，China) Abstract：Asthe ofI『}IvDC transmissionacceleratesinChina．thedemandforDC insulated process power projects gas transmission itis to the issuesofGILunderUHVDCvol— lines(GIL)is