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质子氚和α在Ar和Kr中的径迹长度测量与计算
第33卷第1期 原 子 能 科 学 技 术 . 33, . 1
V o l N o
1999年1月 A tom ic Energy Science and T echno logy Jan. 1999
质子、氚和 在Ar 和 Kr 中的
径迹长度测量与计算
张国辉 唐国有 陈金象 施兆民
(北京大学技术物理系重离子物理研究所, 北京, 100871)
用屏栅电离室对 、 和 在 与 中到达电离密度重心的径迹长度 进行了测量, 并根据
t p A r K r X
T rim 程序和其它文献的阻止本领数据对其进行了计算。理论值与实验结果符合较好。
关键词 屏栅电离室 径迹长度 实验测量 理论计算
X
中图法分类号 TL 815 TL 8111
1 原理
利用屏栅电离室测量中子引起的出射带电粒子核反应数据具有一些突出的优点, 如粒子
( )
探测效率高 接近 100 % , 探测的立体角接近 2 ; 可以同时得到粒子角分布、能谱和双微分截
面数据; 改变工作气体的气压可适应不同能量和不同种类带电粒子的测量并具有粒子分辨能
力。这些优点使屏栅电离室成为测量带电粒子的一种重要手段。
使用屏栅电离室测量中子引起的出射带电粒子的核反应双微分截面时, 需要用到带电粒
[ 1 ]
子在工作气体中到达电离密度重心的径迹长度 数据 。 数据精度直接影响到双微分截面
X X
的测量精度。在已有的文献中, 未见到有关的计算或测量数据, 在理论和实验上准确地确定不
同种类和能量的带电粒子在电离室工作气体( 、 ) 中的 数据具有重要意义。
A r K r X
采用屏栅电离室测量时, 中子入射样品后出射的带电粒子在到达栅极之前被工作气体阻
[ 1 ]
止, 屏栅电离室的阳极和阴极信号分别为 :
X
( ) ( )
U a = E 0 1 - co s 1
d
X
( ) ( )
U c = E 0 1 - co s
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