边界技术的板级实现方法研究.pdfVIP

电子 测 量 与 仪 器 学 报 2004年增刊 边界扫描技术的板级实现方法研究 彭喜元俞洋 孙宁 (哈尔滨工业大学，哈尔滨 150001) 摘要:本文在介绍边界扫描技术基本原理的基础上，讨论了电路板测试性设计的两种方法:器件置换法 和边界扫描单元置入法，重点分析了相对复杂的边界扫描单元置入法，并讨论了对于边界扫描总线的两种控 制方式。实际应用中，大多数器件没有边界扫描接口，因此本文所介绍的边界扫描技术实现方法对进行数字 系统的可测性设计具有一定的参考价值。 关键字:内装测试 边界扫描 可测性 ApproachesofBoundaryScanatBoardLevel PengXiyuan YuYang SunNing (HarbinInstituteofTechnology Harbin 150001) Abstract:BasedontheIEEE1149.1BoundaryScanStandard,twoapproachestoimprovethetestability ofPCBsarediscussedinthispaper.OneistoreplacethedeviceswiththeJTAG-compatibledevices, theotheristosetboundary-scancellsonthePCBboard,whichisrelativelycomplicatedandis fullyexplained.Meanwhile,howtocontroltheboundaryscanbusismentionedinthispaper.As inusual,mostdeviceshavenoJTAGtestaccessports,thetechniquesdiscussedinthispaperare valuabletothedesignfortestability. Keywords:Built-in-test,boundaryscan，testability. 1问题的提出 内装测试 (BIT)是一种在对象内部设置功能测试电路的技术。它从70年代提出到现在 一直是改善电子系统可测试性和诊断能力的一种重要途径和技术。 BIT系统中，获取被测对象足够而准确的测试信息是对被测对象进行故障诊断的基础，测 试信息是否准确与完备直接影响BTI 的故障诊断能力。而近年来，随着大规模集成电路 (VLSI)、超大规模集成电路 (VHSIC)在武器装备中的大量应用，系统和电路板的结构、功 能越来越复杂，传统的信息获取方法难以得到完整而准确的测试信息。因此，针对VLSI等新 型电子器件的测试问题，以欧洲和北美会员为主的联合测试行动组织 (JTAG)于1988年率先 开展了边界扫描技术研究，提出了一系列JTAG边界扫描标准草案。1988年，IEEE组织和JTAG 组织达成协议，共同开发IEEE1149.1边界扫描标准，并与1990年形成了最终的IEEE1149.1 边界扫描标准。 2国内外研究发展现状及存在问题 边界扫描技术被IEEE接受后，受到军方和工业界的普遍重视。边界扫描测试技术成为新 型航空电子设备BTI 中的主要测试和测试性设计技术，并在很多大型装备中得到成功应用， 电子 测 量 与仪 器 学 报 2004年增刊 成为改善装备BIT性能，提高测试性和W修性的重要手段，在提高武器装备战备完好性、降 低维修人力和保障费用方面发挥了重要作用。 1991年至1993年，SCOPE公司将边界扫描技术应用于美空军敌我识别装置的电路板可 测性设计和BIT，进行边界扫描器件和非边界扫描器件的测试与诊断，BIT故障检测率和故障 隔离率分别达到98%和85 。目前，国际上各大电子公司，如TI,Motorola,HP,IBM,Philips, Intel等等，都纷纷采用边界扫描标准，市场上支持边界扫描的产品越来越多，边界扫描技术 的应用越来越广泛，从军用卫星到高性能计