XRD及其原理制样等.pdfVIP

【实验原理】 根据晶体对X 射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是 X 射线物 相分析法。 每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及 其在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此，当 x 射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍 射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d 和衍射线的相对强度I ／I0 来表征。其中晶面间距d 与晶胞 的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。所以任何一种结晶物质的衍射数 据d 和I ／I0 是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。 四. 【实验仪器】 本实验使用的仪器是D/max-3B X 射线衍射仪( 日本理学制造) 。X 射线衍射仪主要由X 射线发生器（X 射线管）、 测角仪、X 射线探测器、计算机控制处理系统等组成。衍射仪的结构如图所示。 1.X 射线管 X 射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。广泛使用的是密闭式, 由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成, 功率大 部分在 1～2 千瓦。可拆卸式X 射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍, 一般为 12～60 千瓦。常 用的X 射线靶材有 W 、Ag 、Mo 、Ni 、Co 、Fe 、Cr、Cu 等。X 射线管线焦点为 1 ×10 平方毫米, 取出角为3～ 6 度。 选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X 射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底， 使图样清晰。 2.测角仪 测角仪是粉末X 射线衍射仪的核心部件，主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及 闪烁探测器等组成。 1）衍射仪一般利用线焦点作为X 射线源S 。如果采用焦斑尺寸为1 ×10 平方毫米的常规X 射线管，出射角 6°时，实际有效焦宽为0.1 毫米，成为0.1 ×10 平方毫米的线状X 射线源。 2 ）从S 发射的X 射线，其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后，照射试样。这个狭缝称为发散狭缝(DS) ， 生产厂供给1/6°、1/2°、1°、2°、4 °的发散狭缝和测角仪调整用0 ．05 毫米宽的狭缝。 3 ）从试样上衍射的X 射线束，在F 处聚焦，放在这个位置的第二个狭缝，称为接收狭缝(RS) ．生产厂供给 0.15 毫米、0.3 毫米、0.6 毫米宽的接收狭缝。 4 ）第三个狭缝是防止空气散射等非试样散射X 射线进入计数管，称为防散射狭缝(SS) 。SS 和 DS 配对，生 产厂供给与发散狭缝的发射角相同的防散射狭缝。 5 ）S1、S2 称为索拉狭缝，是由一组等间距相互平行的薄金属片组成，它限制入射 X 射线和衍射线的垂直 方向发散。索拉狭缝装在叫做索拉狭缝盒的框架里。这个框架兼作其他狭缝插座用，即插入 DS，RS 和SS ． 3.X 射线探测记录装置 衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器(SC) ，它是利用X 射线能在某些固体物质(磷光体) 中产生的波长在可见 光范围内的荧光，这种荧光再转换为能够测量的电流。由于输出的电流和计数器吸收的x 光子能量成正比， 因此可以用来测量衍射线的强度。 闪烁计数管的发光体一般是用微量铊活化的碘化钠(NaI)单晶体。这种晶体经X 射线激发后发出蓝紫色的光。 将这种微弱的光用光电倍增管来放大．发光体的蓝紫色光激发光电倍增管的光电面(光阴极)而发出光电子 (一次电子) ．光电倍增管电极由10 个左右的联极构成，由于一次电子在联极表面上激发二次电子，经联极 放大后电子数目按几何级数剧增(约106 倍) ，最后输出像正比计数管那样高(几个毫伏) 的脉冲。 4.计算机控制、处理装置 D/max-3B 衍射仪主要操作都由计算机控制自动完成，扫描操作完成后，衍射原始数据自动存入计算机硬盘 中供数据分析处理。数据分析处理包括平滑点的选择、背底扣除、自动寻峰、d 值计算，衍射峰强度计算 等。 五. 【实验参数选择】 1. 阳极靶的选择： 选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X 射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底， 使图样清晰。 必须根据试样所含元素的种类来选择最适宜的特征 X 射线波长(靶) ．当X 射线的波长稍短于试样成分元素 的吸收限时，试样强烈地吸收X 射线，并激发产生成分元素的荧光X 射线，背底增高。其结果是峰背比(信 噪比)P ／B 低(P 为峰强度，B 为背底强度) ，衍射图谱难以分清。 X 射线衍射所能测定的