0.13μmGGNMOS管的ESD特性探究.pdfVIP

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第9卷,第9期 电 子 与 封 装 总第77期 V01.9.No.9 2009年9月 ELECTRONICSPACKAGING 每,7爱,G,酉,。I囊】t簟:]葛囊 0.13 mGGNMOS U 管的ESD特性研究 郭 斌,,王 东2姜玉稀3 (1.山西稷山广播电视发展中心,山西稷山043200;2.巴卅I电力公司塔什店火电厂,四川巴中636600; 3.上海大学, 上海200000) 保护机理主要是利用该晶体管的骤回特性。文章对NMOS管的骤回特性进行了详细研究,利用特 种具有不同版图参数和不同版图布局的栅极接地NMOS晶体管,通过TLP测试获得了实验结果,并 对结果进行了。分析比较,详细讨论了栅极接地NMOS晶体管器件的版图参数和版图布局对其骤回特 性的影响。通过这些试验结果

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