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19 2 电 子 显 微 学 报 Vol-19, No. 2
2000 4 Journal of Chinese Electron Microscopy Society 2000-04
: 1000-6281( 2000) 02-081-0103
— 、
李斗星
( 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室,沈阳市 110015)
: 本 综述了材料科学中的高分辨电子显微学发展历史、 现状与展望。 重点讨论了在高分辨电
子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法,能区分原子种类的选择成像法、 能量过滤选择
成像法和 Z-衬度像,能研究物质结构变化动态过程的分辨时间高分辨电子显微学,能定量地分析物
质结构的定量高分辨电子显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学中的应用和展望。
: 原子尺度分辨率; 电子显微学;新相;缺陷; 晶界结构;表征; 图像处理
: T B3; O766. 1 : A
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Stuttg rt )。
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