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无损检测仪器校验规程 JLXYGC-2005 编制：张铭 胡义昌 审批：李兆太 发布：2005年5月1日 执行：2005年6月1日 南京金陵检测工程有限公司 目录 JLXY01-2005《X射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程》 JLXY02-2005《超声波探伤仪校验规程》 JLXY03-2005《磁轭式交流磁粉探伤仪校验规程》 JLXY04-2005《超声波测厚仪校验规程》 JLXY05-2005《黑度计校验规程》 X射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程 JLXY01-2005 编制依据 依据JB/T4730-2005标准要求,每台在用X射线机应制作经常检验材料的曝光曲线。依据曝光曲线选择曝光参数。 适用范围 本规程适用于X射线机曝光曲线的制作的校验。 应用器材 3.1 阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于100mm，长度不小于300mm。 3.2 TD-210黑度计 3.3 胶片及暗室处理 3.4观片灯 制作步骤： 每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线 4.1设计透照参数 每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV； 参数设计表 管电压 KV 曝光量mA分 5 10 15 25 对应厚度mm 注：焦距600mm或常用焦距， 显影20℃ 5分钟， 胶片：天津Ⅲ型或常用型号胶片， 铅增感屏0.03/0.1， 取底片黑度为3.0。 4.2曝光试验 根据选择的曝光参数进行透照,透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽. 底片冲洗干燥后,用观片灯观察,并用黑度计测量,选择黑度3.0(或与之最相接近)的部位,填入参数设计表的对应栏. 4.3绘制曝光曲线 根据参数设计表中的数据,绘制曝光曲线。 曝光曲线用对数坐标纸绘制。纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。 曝光曲线的校验 在用设备每年应对曝光曲线进行一次校验。 设备更换重要部件或经大修后，应及时对曝光曲线进行校验，经校验其曝光参数与曝光曲线不相符时，应重新制作曝光曲线。 曝光曲线试验记录 管电压 KV KV KV 曝光量mA分 5 10 15 25 5 10 15 25 5 10 15 25 对应厚度mm 注：焦距600mm；显影20℃ 5分钟；胶片： C7 型； 铅增感屏0.03/0.1； 底片黑度：3.0。 超声波探伤仪校验规程 JLXY02-2005 1. 编制依据：JB/T9214-1999 A型脉冲反射式超声波探伤仪系统性能测试方法和JB/T4730-2005承压设备无损检测。 2. 适用范围： A型脉冲反射式超声波探伤仪的校验。 3. 技术要求 3.1 垂直线性误差≤5%。 3.2 动态范围≥26dB。 3.3 水平线性误差≤1%。 3.4 灵敏度余量﹥10dB。 4. 校验项目 4.1 外观 4.2 垂直线性误差 4.3 动态范围 4.4 水平线性误差 4.5. 灵敏度余量 5. 校验用器材 5.1 探头： 2.5P10×12K2 HB-50专用直探头 5.2试块：CSK-ⅠA，CSK-ⅢA 6. 校验方法 6.1 外观检查 配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，所有紧固件不得松动和脱落。 6.2 垂直线性误差校验 6.2.1 连接HB-50专用直探头，抑制关，调节衰减器和增益使荧光屏上显示波形其中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB的衰减余量，设该波为H。 6.2.2 调节衰减器，依次记下每次衰减2dB时H波的幅度值，直至衰减26dB。然后将H波幅度实测值与表6.2.2中的理论值相比较，最大正偏差d+与最大负偏差d-的绝对值之和为垂直线性误差△d。 6.3 动态范围校验 6.3.1 连接HB-50专用直探头，调节探伤仪衰减器和增益使荧光屏上显示的波形中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB的衰减余量。 表6.2.2 衰减量dB 0 2 4 6 8 10 12 波高理论值% 100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1 衰减量dB 14 16 18 20 22 24 26 波高理论值% 20.0 15.8 12.5 10.0 7.9 6.3 5.0 6.3.2 调节衰减器，读取幅度自垂直刻度的100%下降至刚能辨认的最小值时的调节量，为探伤仪的动态范围。 6.4 水平线性误差校验 6.4.1 连接HB-50专用直探